詳細(xì)信息
X射線熒光分析法原理及特點(diǎn)
用X射線轟擊樣品，樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光便利性，X射線通常把元素原子層K層和L層的內(nèi)層電子打出原子方法，產(chǎn)生的空穴被高能量的外層電子。補(bǔ)充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射出來(lái)提供有力支撐。這些輻射出來(lái)的譜線中含有各種元素的特征切實把製度，像指紋一樣，并且獨(dú)立于原子的化學(xué)價(jià)態(tài)自行開發。輻射的強(qiáng)度與樣品中該元素的濃度成正比進行部署。
應(yīng)用領(lǐng)域
性能特點(diǎn)
儀器體積更小、重量更輕應用情況，方便攜帶保護好。
高速處理芯片的算法和軟件相配合，使得儀器分析速度更快表現。
選用高性能X光射線發(fā)射管和高分辨率探測(cè)器特點，結(jié)合數(shù)字多道處理技術(shù)，使得TrueX手持式X熒光光譜儀具有高分析精度結論。
用戶可自定義創(chuàng)建報(bào)告：包括公司標(biāo)志和諧共生、公司地址質生產力、檢測(cè)結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述技術交流、產(chǎn)地先進的解決方案、批號(hào)等）。
內(nèi)置的環(huán)境感應(yīng)系統(tǒng)創造更多。使得TrueX能夠?qū)崟r(shí)感知周?chē)h(huán)境變化宣講活動，并自動(dòng)做出參數(shù)調(diào)整，以適用高低溫自主研發、粉塵確定性、陰暗潮濕等端條件下的元素分析更加廣闊。
內(nèi)置DoubleBeam™技術(shù)自動(dòng)感知儀器前方有無(wú)樣品不同需求， 提高射線的安全性和防護(hù)等級(jí)。且自動(dòng)根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度保持穩定。
可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)總之，可遠(yuǎn)程對(duì)儀器進(jìn)行設(shè)置及檢修。
TrueX內(nèi)置的全新凈強(qiáng)度擬合算法支撐作用，優(yōu)化了光譜解析過(guò)程研學體驗，使得TrueX擁有與實(shí)驗(yàn)室大型設(shè)備相媲美的低檢出限。
具有MSBUS總線的智能電池最為突出、實(shí)時(shí)監(jiān)控電池落實落細、備用電池可直接查看電池剩余容量。
工業(yè)電阻觸摸屏高效化，相比電容屏具有更優(yōu)異的背光性能製高點項目，在野外強(qiáng)光下依然清晰可見(jiàn)，同時(shí)免除野外特殊環(huán)境脫手套操作的危險(xiǎn)性範圍和領域。
技術(shù)參數(shù)及規(guī)格
