FTIR顯微ATR
顯微鏡中的
帶集成壓力傳感器的電動(dòng)ATR晶體
ATR模式下的FPA成像
在ATR開展面對面、透射和反射模式之間快速切換
高精度樣品臺(tái)
自動(dòng)測(cè)量
的ATR
LUMOS II 是一款易于使用的獨(dú)立式 FTIR 顯微鏡，在任何測(cè)量模式下均具有性能非常重要。無(wú)論是透射進一步提升、反射還是衰減全反射 (ATR)空間廣闊，LUMOS II 始終是正確的選擇。
但它的優(yōu)勢(shì)是 ATR 顯微技術(shù)改革創新。
FTIR 顯微技術(shù)中 ATR 的適用性令人驚奇知識和技能，結(jié)合FPA 成像可以進(jìn)一步增強(qiáng)它的適用性。這使得 LUMOS II 成為故障分析和產(chǎn)品開發(fā)的常用工具新模式。
ATR 在顯微技術(shù)中的優(yōu)勢(shì)
誠(chéng)然實現，每種技術(shù)都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。在 FTIR 顯微技術(shù)中組織了，透射和反射面臨著類似的限制因素限制其適用性服務體系。
相比之下，ATR 在無(wú)需樣品制備的情況下搶抓機遇，幾乎可為任何樣品類型提供高品質(zhì)的 FTIR 數(shù)據(jù)分析。此外，它還提供高空間分辨率全面闡釋。
與透射和反射測(cè)量相比非常激烈，在ATR中，鍺晶體充當(dāng)固體浸沒(méi)透鏡集中展示，將空間分辨率提高 4 倍實力增強。這樣，您可以輕松分析小至幾微米的樣品探索創新。
在透射中帶來全新智能，樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對(duì)于大多數(shù)樣品新產品，這需要耗時(shí)的樣品制備去完善，例如使用精細(xì)切片機(jī)切片。
如果要檢測(cè)小纖維或微粒長遠所需，必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元求索。
在反射中，樣品需具備光滑的規模、拋光的紅外反射表面空間廣闊，或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下提供深度撮合服務，樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過(guò)服務品質，從而獲得合適的紅外光譜。此外組成部分，反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進(jìn)行評(píng)估影響。
持久和強(qiáng)大的應(yīng)用
對(duì)我們來(lái)說(shuō)，向客戶交付技術(shù)是理所應(yīng)當(dāng)?shù)氖碌倪^程中。這也適用于 LUMOS II發展契機。
RockSolidTM 干涉儀可確保恒定的性能廣泛關註，而現(xiàn)代電子設(shè)備可確保機(jī)械精度和低能耗。同時(shí)發力，軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能優勢領先。
無(wú)限可能，待您探索
FTIR 成像的應(yīng)用非常多樣持續創新。上面的例子概述了 ATR-FTIR 顯微技術(shù)的實(shí)用性改善。無(wú)論是產(chǎn)品開發(fā)、故障分析還是識(shí)別古代壁畫的成分 — LUMOS II 都能從容高效地完成這一切協調機製。
