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- 公司名稱 上海析譜儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/2/7 12:41:28
- 訪問次數(shù) 103
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TR透反射測(cè)試儀(透射率穩定發展、反射率)產(chǎn)品介紹:主要特點(diǎn):上海析譜研發(fā)生產(chǎn)的X3PCSR自動(dòng)透反測(cè)試儀是一款具有多種大型高級(jí)儀器功能的智能型可見分光光度計(jì)
TR透反射測(cè)試儀(透射率、反射率)
產(chǎn)品介紹:
主要特點(diǎn):
“ 上海析譜” 研發(fā)生產(chǎn)的X3PCSR自動(dòng)透反測(cè)試儀是一款具有多種大型高級(jí)儀器功能的智能型可見分光光度計(jì)聯動。儀器具有自動(dòng)化程度高增持能力,功能豐富,可塑性強(qiáng)等特點(diǎn)行業內卷。隨機(jī)標(biāo)配一份具有多種應(yīng)用功能的X3PCSR應(yīng)用軟件您就能得到適合于您個(gè)性化要求的樣品分析解決方案服務。無論您工作在那個(gè)行業(yè),都能得到一份“上海析譜”精心為您設(shè)計(jì)的解決方案! 還增加了,(透射測(cè)量,反射測(cè)量2套軟件;2套附件(大平片測(cè)試附件能力和水平、反射附件)覆蓋,滿足不同行業(yè)的需求.
可廣泛地用于光學(xué)、化學(xué)、機(jī)械等科學(xué)研究領(lǐng)域以及光學(xué)器材制造高效、建筑玻璃應用創新、薄膜、眼鏡片機構、隱形眼鏡片改善、單層多層玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定。鍍膜行業(yè)協調機製、寶石業(yè)信息化、化學(xué)工業(yè)、冶金工業(yè)等企業(yè)事業(yè)單位進(jìn)行快速檢測(cè)和精確分析實踐者,真空鍍膜AF/AR/IR/AS做透過率反射率的測(cè)試取得明顯成效,和對(duì)農(nóng)產(chǎn)品、食品數據、醫(yī)藥等領(lǐng)域的營養(yǎng)成份創新的技術、水份及化學(xué)物理性質(zhì)的快速無損分析測(cè)定。
1. 寬大的樣品室顯著,可容納5—100mm各種規(guī)格的比色皿快速增長;190*120mm大平片導(dǎo)航觸摸屏的反射透射都可量;
2. 設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)占;
3. 采用單機(jī)操作高質量,線性回歸方程測(cè)量等;
4. 應(yīng)用的微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便
5.波長激發創作,調(diào)零全自動(dòng)逐步改善,波長最小間隔0.1nm
6.配2套上層軟件,
A透射測(cè)量覆蓋所有功能提升,光譜掃描大大提高、時(shí)間掃描、DNA專用測(cè)試研究成果、多波長測(cè)試取得了一定進展、標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試等,并且使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存達(dá)到無限大面積。
B反射測(cè)量積極參與,剩余反射測(cè)量裝置及測(cè)量軟件。
詳細(xì)參數(shù):
波長范圍:325-1100nm
光譜帶寬:1,2,4,5nm狹縫自動(dòng)可變
圓形樣品最小測(cè)試φ2反射率樣品
波長準(zhǔn)確度:±0.5nm
波長重復(fù)性:0. 2nm
光度準(zhǔn)確度:±0.5%T
光度重復(fù)性:0.2%T
雜散光:0.1%T(360nm處)
穩(wěn)定性:±0.001A/h(500nm處)
顯示方式:液晶顯示器
最小分辨率0.1nm
吸光度范圍:-0.3-3.0A培養,0-200%T
檢測(cè)器: 進(jìn)口硅光二極管
光源: 進(jìn)口品牌鎢燈
鍵盤: 觸摸式按鍵
數(shù)據(jù)輸出: RS-232標(biāo)準(zhǔn)接口 /USB接口
打印輸出: 并口
電源: AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz
儀器尺寸: 470*380*200mm
機(jī)重量: 13kg
潛水鏡片交流研討,導(dǎo)航觸摸屏、手機(jī)攝像頭形式、隱形眼鏡片建設應用,光學(xué)鍍膜件通過儀器(反射軟件)反射率測(cè)量/透射率測(cè)量后才能準(zhǔn)確修正物理膜系支撐作用。
X3PCSR掃描圖譜(剩余反射圖譜)
裝箱單 | |
1 | 儀器主機(jī)壹臺(tái) |
2 | 電源線壹根 |
3 | 反射測(cè)試臺(tái)壹套 |
4 | 高反基準(zhǔn)片壹片 |
5 | 低反基準(zhǔn)片壹片 |
6 | 隨機(jī)資料壹份 |
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