AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡新創新即將到來，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中有序推進、溶液中等環(huán)境中進行測量設施。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響道路。
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡性能，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中對外開放、溶液中等環(huán)境中進行測量技術創新。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響資料。
AFM5300E能夠實現高真空的測試環(huán)境哪些領域，限度減小樣品表面吸附水對測試的影響，實現精確的物理特性測量不斷創新。 真空環(huán)境下可以實現更大范圍的溫度控制建立和完善。
（3857581號、3926638號）
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制 加熱?冷卻(-120～300℃) 高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』參與水平，樣品和掃描器更換更為方便的同時大型，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)明確相關要求。
采用了『Swing Cancel功能』重要意義，減輕了樣品的浮動，降低了漂移深化涉外。提高了納米分析性能體系，提升了可信度。
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響攜手共進，因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。
| 分辨率 | 原子相 |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 20 mmφ推進一步、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm) |
| 樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
| 掃描范圍 | 標準： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環(huán)差控制） 定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍） |
| 檢測功能 |
|
| 選配件 | 高溫加熱樣品臺 加熱冷卻兼用樣品臺 冷卻真空 溫度控制 |
介紹掃描探針顯微鏡的應用數據高產。
解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理。
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設備的歷史和發(fā)展發揮作用。(Global site)
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