可靠光學(xué)測量明確相關要求，通知可量化的研發(fā)和QA/QC決定重要意義。真色、成像揭示以前隱藏的微觀細(xì)節(jié)行業內卷。柔韌追求卓越、分期和固定，根據(jù)您的具體樣本和應(yīng)用情況量身定做參與能力。

自動(dòng)化Contour Elite X三維光學(xué)剖面儀結(jié)合了****的測量能力合理需求，在業(yè)界*大的視野和高保真度彩色或單色成像的*高垂直分辨率。沒有任何其他計(jì)量系統(tǒng)提供非接觸式精度充分發揮、吞吐量高質量、操作人員方便和成像能力來解決如此廣泛的生產(chǎn)計(jì)量應(yīng)用。為滿足*苛刻的研發(fā)選擇適用、質(zhì)量保證和過程質(zhì)量控制需求而設(shè)計(jì)管理，Contour Elite X提供了*終的量具能力三維光學(xué)剖面解決方案。

彩色成像與計(jì)量相結(jié)合

額外的高保真彩色成像業務指導，一家側(cè)照明和**的算法改進措施，使等Contour Elite X用戶訪問額外的視角，無法提供的系統(tǒng)還不大，單獨(dú)提供計(jì)量學(xué)高產，以及提供可識(shí)別的表面特征細(xì)節(jié)的報(bào)告能力。這使用戶能夠根據(jù)顏色或灰度信息分割數(shù)據(jù)發揮作用，以快速選擇感興趣的區(qū)域良好，并從這些特定區(qū)域收集關(guān)鍵的計(jì)量數(shù)據(jù)。將優(yōu)異計(jì)量學(xué)與觀察銘記囑托、識(shí)別和顯示測量結(jié)果的能力結(jié)合起來引領，不僅對于理解數(shù)據(jù)，而且對于交流結(jié)果示範，都是非常重要的應用前景。

*佳橫向和縱向分辨率

Contour Elite X系統(tǒng)擁有*好的組合橫向和縱向分辨率超過行業(yè)的*大視野，有一個(gè)亞納米到大于10毫米的垂直范圍運行好。它包括研發(fā)100獎(jiǎng)的針灸XR測量技術(shù)首次，它提供了打破衍射極限在您的光學(xué)測量。此外部署安排，該系統(tǒng)還可以使用一個(gè)百萬像素的相機(jī)來提高X-Y空間分辨率.從1倍到115倍的大視場和客觀放大使得能夠描述極其廣泛的表面形狀和紋理搖籃。

快速無損成像

Contour Elite X型剖析器是一個(gè)非接觸系統(tǒng)與一個(gè)大的舞臺(tái)，使您的樣本或部分完整和未損壞推廣開來。我們的*利白光干涉測量(WLI)技術(shù)獲得高度數(shù)據(jù)的亞納米精度推動，是獨(dú)立于放大使用相對較高。這意味著，即使在一毫米范圍內(nèi)采樣超過一百萬個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)--平方圖像區(qū)域即將展開，用戶也能夠在幾秒鐘內(nèi)收集到高分辨率的高度數(shù)據(jù)大幅增加。