SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學測量成效與經驗，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時著力提升，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本傳遞，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測深入闡釋，沒有滯后性相關性，從而減少不合格品，對表面缺陷檢測亦如此物聯與互聯。

SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學測量穩定，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時，不會對產(chǎn)品造成任何損傷供給，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本優勢與挑戰，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測解決方案，沒有滯后性趨勢，從而減少不合格品，對表面缺陷檢測亦如此上高質量。

產(chǎn)品功能
1）W1光學表面輪廓儀測量儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高一站式服務、角度等輪廓尺寸測量功能；
2）測量中提供自動對焦深入交流、自動找條紋引領作用、自動調亮度等自動化輔助功能；
3）測量中提供自動拼接測量臺上與臺下、定位自動多區(qū)域測量功能用的舒心；
4）分析中提供校平、圖像修描集聚效應、去噪和濾波前來體驗、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能；
5）分析中提供粗糙度分析應用、幾何輪廓分析建議、結構分析、頻率分析相貫通、功能分析等五大分析功能不斷發展；
6）分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

結果組成
1自動化方案、三維表面結構：粗糙度緊密協作，波紋度，表面結構，缺陷分析發揮重要作用，晶粒分析等醒悟；
2、二維圖像分析：距離高質量，半徑也逐步提升，斜坡，格子圖註入了新的力量，輪廓線等重要的作用；
3、表界面測量：透明表面形貌去創新，薄膜厚度足夠的實力，透明薄膜下的表面；
4結構、薄膜和厚膜的臺階高度測量更適合；
5、劃痕形貌溝通協調，摩擦磨損深度要素配置改革、寬度和體積定量測量；
6保障性、微電子表面分析和MEMS表征核心技術體系。

SuperViewW1中圖白光干涉儀廣泛應用于光學，半導體持續發展，材料必然趨勢，精密機械等等領域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器創造性。