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Microsemi 相位噪聲和艾倫偏差測試儀

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現(xiàn)貨租售銷售回收Microsemi 53100A 相位噪聲和艾倫偏差測試儀

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Microchip 53100A相位噪聲分析儀概述53100A相位噪聲分析儀可以測量**RF信號源的幅度約定管轄、相位和頻率穩(wěn)定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz創新的技術。53100A可以告訴您關(guān)于您被測設(shè)備的任何穩(wěn)定性特性發揮,時(shí)間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨(dú)使用還是集成到自動(dòng)化測試系統(tǒng)中就此掀開,小巧的外形和業(yè)界良好的測量速度使得51300A可以適用于大多數(shù)應(yīng)用長足發展。繼承并擴(kuò)展了3120A和51XXA系列儀器的優(yōu)點(diǎn),53100A可以以*低的成本來****地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差穩步前行。得益于改進(jìn)地設(shè)計(jì)和制造工藝進(jìn)步結構不合理,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。特點(diǎn)信號輸入和參考輸入逐步改善,頻率范圍1MHz到200MHz沒有相位鎖定和不需要測量校準(zhǔn)單或雙參考振蕩器輸入允許互相關(guān)測量TSC 51XXA命令和數(shù)據(jù)流仿真功能減少了重寫現(xiàn)有測試腳本的負(fù)擔(dān)直觀的圖形界面使用戶能夠**開始測量測量亞皮秒精度相位和頻率差的實(shí)時(shí)帶狀圖**頻率計(jì)數(shù)精度每秒鐘13位以上意見征詢,可到17位ADEV典型值<5E-14(1秒)可以測量MDEV提升、HDEV、TDEV相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz的必然要求,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz載波)時(shí)間抖動(dòng)研究成果、殘余FM調(diào)頻和SSB載波/噪聲比率 在Windows系統(tǒng)上使用**的基于電腦的DSP技術(shù),所有這些測量都可以同時(shí)進(jìn)行完善好。您可以查看大面積、保存、比較活動上、打印和導(dǎo)出各種格式數(shù)據(jù)有望,包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源導向作用,參考源頻率為1MHz到200MHz方案,儀器本身不需要校準(zhǔn)。 規(guī)格(25℃環(huán)境)十大行動,除非備注其他溫度性能頻率范圍1到200MHzADEV<7E-14 (1秒)<5E-16(1000秒)相位噪聲規(guī)格偏移頻率范圍:0.001Hz到1MHz

 


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