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飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 美國安普科技中心
  • 品牌
  • 型號
  • 所在地
  • 廠商性質 經銷商
  • 更新時間 2015/12/3 15:00:01
  • 訪問次數(shù) 2003

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飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)

詳細信息 在線詢價

技術參數(shù)

1.空間分辨率:使用25千伏Ga脈沖離子束,使用PHI提供的監(jiān)測結構等形式,空間分辨率*120 nm
2.質量精確度: 在小于m/z = 100情況下技術的開發,*2 mamu,在大于m/z = 100飛躍,<10 ppm
3.傳輸率: 40%的原子更高效,90%的分子,數(shù)值由離子光學模擬計算得出重要部署。

主要特點

1.標準配置In,Ga離子槍具體而言,還可以選配Cs/O離子源和Au離子源
2.高靈敏度,高成像清晰度智慧與合力,無陰影效應
3.動態(tài)范圍寬


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