適應性解決方案
HEL PAT-IR （過程分析技術）是一種即插即用技術推廣開來，是理想化的過程實施監(jiān)測及反饋控制探測器推動，它能夠提供全面的集成化解決方案，并滿足多種化學及生物反應器及其應用的特殊需求資源配置。
模塊集成化
多通道FT-IR 可與HEL多通道平行反應平臺系統(tǒng)完美兼容信息。此外，HEL還提供采用同種技術的流動探測版本大力發展，也可擴展實時監(jiān)測及反饋控制功能豐富內涵。
多種環(huán)境
PAT-IR專為過程環(huán)境而設計，然而緊湊性設計也是其成為適合于實驗室基礎應用的一款理想儀器產能提升。其采用的無損分析方法適應性，數(shù)秒鐘即可得到實驗數(shù)據(jù)，十分契合化學過程在線測量的需求通過活化。
光纖探頭
在ATR(全反射衰減法)采樣技術與光導光纖的強強組合可以大大擴展紅外光譜的適用范圍落地生根。光纖探頭可以實現(xiàn)原位測量，這樣有助于充分利用中紅外光譜儀提供的豐富信息并*發(fā)揮這一優(yōu)勢健康發展。
多種適用傳感器可選有效保障，包括金剛石ATR探頭，可用于原位分析落實落細。該設計結合了雙反射金剛石ATR 傳感器及MIR-鹵化銀纖維的優(yōu)良性能相結合。
主探頭規(guī)格：直徑6mm, 長度300mm, 哈氏合金材質(zhì)，金剛石視窗製高點項目，工作溫度-100 to 180°C為產業發展，壓力300bar
快速連接
PAT-IR 提供專有的快速接頭設計，確保操作簡單及光纖傳感器更換方便有所增加，保證測試數(shù)據(jù)重現(xiàn)性好各項要求。利用內(nèi)置自動化多通道系統(tǒng)，1臺主機多可支持6通道的數(shù)據(jù)采集及反饋控制越來越重要的位置。
設計特點
PAT-IR基于布魯克光學原理新技術，設計緊湊共同學習，通過中紅外光纖傳感器服務于質(zhì)量保證、過程控制和過程優(yōu)化的應用需求深入。標配光纖傳感器與BQC連接效高，可選配一6端口多路轉換器。該系統(tǒng)包括一個窄頻帶MCT探測器基礎，以及可持續(xù)12小時的液氮冷卻系統(tǒng)性能。
數(shù)據(jù)
性能：
光譜范圍：7500 - 720cm-1 （標配*分束器和MCT探測器）
測量速度：可達每秒5次，分辨率8cm-1
分辨率：優(yōu)于1. 0cm-1（升級為高感光A級繞射變跡技術）
波數(shù)重復性：優(yōu)于0. 04cm-1
波數(shù)精確度：優(yōu)于0.1cm-1
光度精準性：優(yōu)于0.1% T
探測傳感器：
ATR元素：雙反射硅棱鏡或金剛石棱鏡
傳感器長度：290 mm ± 20 mm（可根據(jù)需要定制規(guī)格）
傳感器直徑：6mm
傳感器材質(zhì)：哈氏合金
密封件：特氟龍材質(zhì)或金剛石惰性焊接
光纖設計：具有堅固的電纜保護管集中展示，將鹵化銀光纖放置其中
光譜范圍：根據(jù)檢測器材質(zhì)的不同有所不同
硅棱鏡 3500 - 660 cm-1 (3 - 16μm )
金剛石棱鏡 3500 - 560 cm-1 (3 - 18μm)
工作溫度：
硅棱鏡：-100°C ~130°C
金剛石棱鏡：-100°C ~ 180°C
壓力穩(wěn)定性
硅棱鏡：大至30bar
金剛石棱鏡：大至300bar
