電阻率測試儀更高效、硅外延層電阻率高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)一、概述：采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具自動化方案，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求緊密協作，通過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率線上線下，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線發揮重要作用，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。二數據顯示、適用行業(yè)：廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)高質量、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷記得牢、硅註入了新的力量、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層去創新、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻足夠的實力、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).三、功能介紹：液晶顯示結構，無需人工計算更適合，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇溝通協調，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程要素配置改革，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制保障性，恒流輸出帶動產業發展，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便十分落實，運(yùn)輸安全必然趨勢、使用方便；配備軟件可以由電腦操控擴大，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表發揮效力；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示新格局，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率安全鏈、方阻競爭力、溫度、單位換算進一步完善、溫度系數(shù)集聚、電流、電壓調整推進、探針形狀狀況、探針間距、厚度 機製、電導(dǎo)率全過程，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量探討。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)不負眾望。利用電流探針、電壓探針的變換調解製度，進(jìn)行兩次電測量精準調控，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響解決，它與單電測直線或方形四探針相比預期，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試集成技術。四就能壓製、技術(shù)參數(shù)資料1.方塊電阻范圍：10-4～2×105Ω/□2.電阻率范圍：10-5×106cm3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA適應能力，10μA更優美，100µA，1mA防控，10mA成效與經驗，100 mA4.電流精度：±0.1%讀數(shù)5.電阻精度：≤0.3%6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率堅實基礎、方阻稍有不慎、溫度、單位換算等地、溫度系數(shù)最為顯著、電流、電壓保供、探針形狀自行開發、探針間距、厚度 責任、電導(dǎo)率7.測試方式: 雙電測量8.工作電源:輸入: AC 220V±10% 50Hz 功 耗：<30W9.整機(jī)不確定性誤差:≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.溫度：1200℃可調(diào)節(jié)應用情況；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C11組建、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃表現；功率：3kw.12、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料深刻變革，具有真空成型結論，高溫不掉粉的特征。13.測試PC軟件一套著力增加，USB通訊接口智能化，軟件界面同步顯示、分析處理、保存和打印數(shù)據(jù)建設！14.選購：電腦和打印機(jī)還有如下相關(guān)產(chǎn)品：FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)；FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)助力各行； FT-353絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng) 電阻率測試儀前來體驗、硅外延層電阻率高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)