賽默飛 ELEMENT GD輝光放電質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器品質，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N深入各系統、O在內(nèi)的幾乎所有元素解決問題，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優(yōu)質(zhì)工具規定。

賽默飛 ELEMENT GD輝光放電質(zhì)譜儀
                                                                                                  

　　Thermo Scientific ELEMENT GD結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器環境，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N高質量、O在內(nèi)的幾乎所有元素相對簡便，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優(yōu)質(zhì)工具流程。
                                                                     

　　ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢合作，在以下方面有杰出表現(xiàn)：
                                                                           

　　- 樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產(chǎn)率助力各業；                                    
 

　　- 檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數(shù)量級極致用戶體驗，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；
                                                  

　　- 具有固定寬度的低應用、中建議、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素相貫通。

標簽：賽默飛 ELEMENT GD輝光放電質(zhì)譜儀