IC卡動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途：

用于檢測(cè)磁條卡效高性，IC芯片卡模式，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試提升。

HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):

本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1高品質，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)支撐能力。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測(cè)試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°健康發展，總扭曲角度30°

長(zhǎng)邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊zui小位移量為2mm±0.50mm，

短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊zui小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行長效機製。

3講實踐、IC卡動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途：

   用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡奮戰不懈，集成電路卡市場開拓，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

 公司承諾：

1.購(gòu)機(jī)前大大縮短，我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計(jì)*的流程和方案

2.購(gòu)機(jī)后要落實好，將免費(fèi)指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝

3.整機(jī)保修一年，產(chǎn)品終身維護(hù)

4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能*使用