非線性誤差：<±1.5%
換檔誤差：<±1.0%
疲勞誤差：<3.0%
相對(duì)示值誤差：<±8.0％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)）
響應(yīng)時(shí)間：<1秒
使用環(huán)境：溫度（0-40）℃服務效率；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm明確相關要求；0.2kg

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
該款紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片統籌發展，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)深化涉外，探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定生產製造，適用性強(qiáng)開展試點。適用于光化學(xué)、高分子材料老化共同、紫外光源推進一步、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
數(shù)字液晶顯示簡單化，帶背光
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作力度，蜂鳴提示
主要參數(shù)：
波長(zhǎng)范圍λ1，峰值波長(zhǎng)λp：（290～340）nm系統性，λP＝313nm用戶二選一
波長(zhǎng)范圍λ2勇探新路，峰值波長(zhǎng)λp：（315～370）nm，λP＝340nm
輻照度測(cè)量范圍：（0.1～199.9×103） μW/cm2
零值誤差（滿量程FS）：<滿量程的±1.0%
長(zhǎng)波響應(yīng)誤差：<15%
余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差：<10%
非線性誤差：<±1.5%
換檔誤差：<±1.0%
疲勞誤差：<3.0%
相對(duì)示值誤差：<±8.0％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)）
響應(yīng)時(shí)間：<1秒
使用環(huán)境：溫度(0-40)℃傳遞；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm試驗；0.2kg
電源：6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機(jī)功耗：＜0.1VA
裝箱清單：
讀數(shù)顯示單元1個(gè)
探頭1個(gè)
探頭蓋1個(gè)
數(shù)據(jù)線1個(gè)
說明書1個(gè)
合格證/保修單1個(gè)
9V積層電池1個(gè)
儀器包裝箱1個(gè)