固體及薄膜Zeta電位分析儀(Solid Surface Zeta Potential Analyser)

1.粒徑測(cè)量濃度范圍：0.001 % ~ 40 %
2.Zeta電位測(cè)量濃度范圍：0.001 % ~ 40 %
3.電 勢(shì)：-100 mV ~ 100 mV
4.電遷移率：-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V
5.粒徑適合范圍：0.6 nm ~ 30 μm
光 源：
雙固體激光發展基礎，30 mW
探測(cè)器：
高性能光電倍增管
樣品池：
標(biāo)準(zhǔn)樣品池、高濃度樣品池建強保護、流動(dòng)樣品池同期、固體平板樣品池、一次性樣品池等使命責任。

固體及薄膜Zeta電位分析儀儀器介紹

        目前能測(cè)量固體或薄膜材料液效果、固表面ZETA電位的儀器很少。而應(yīng)用電泳
光散射的方法合規意識，通過(guò)測(cè)量液密度增加、固表面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫(kù)爾特公司
上市的DelsaNano系列。
北京東方安諾生化科技有限公司
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