NPFLEX是Bruker公司于2010年推出的一款可針對各種復(fù)雜形狀樣品進行表面測量的儀器。光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式光學(xué)輪廓儀傳遞，它使用兩種技術(shù)來測量表面高度融合。一種是相位漂移干涉計（PSI）模式，它可以測量光滑表面相關性；另一種是垂直掃描干涉計（VSI）模式完成的事情，它可以測量粗糙表面和臺階。

由于航空鑄造零件上穩定，具有很多過渡曲面改造層面，采用探針式測量方法有很多的局限性。一是某些區(qū)域探針很難進入里面進行測量優勢與挑戰；二是探針式測量方法的精度達不到測量的要求經驗分享。而采用白光干涉的測量方法只要光能入射并反射回來就可進行測量，不管是對曲面還是直面均可進行快速解決問題、高精度系列、高重復(fù)性測量