殘余應(yīng)力測(cè)定儀使用X射線衍射法來測(cè)量殘余應(yīng)力和殘余奧氏體，適用于所有多晶體材料（包括陶瓷）管理。

殘余應(yīng)力測(cè)定儀技術(shù)規(guī)格：

主控單元

可自由調(diào)整管理。超緊湊設(shè)計(jì)

包括

-電源

-電子部件和固件控制單元

-高壓發(fā)生器

-自循環(huán)液體冷卻系統(tǒng)新創新即將到來，不需外部供水

-確保安全所需的所有互鎖裝置

殘余奧氏體測(cè)量

實(shí)驗(yàn)室精度

不需切割試樣

測(cè)角儀

測(cè)角儀安裝在一個(gè)帶有磁座的三角架上力度。

-傾角：可編程-60°~ +60°(標(biāo)準(zhǔn))

-搖擺：可編程0°~ ±6°

探測(cè)器

在幾何系統(tǒng)的入射線兩側(cè)對(duì)稱安裝了高精密度的MOS線性成像探測(cè)器

角精度：0.014°-0.057°象素

軟件

操作系統(tǒng)：Windows敢於挑戰。