作為zui先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家試驗，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合優化服務策略，突破性地推出了結(jié)合15°不容忽視、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（Phase Analysis Scattering實現了超越，相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)資源優勢，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中特征更加明顯，既可以同時(shí)兼顧大不斷完善、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限方便，zui高可達(dá)40%wt基礎上；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用知識和技能，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)取得顯著成效、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍實現，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題不容忽視。Omni是目前市場上功能zui強(qiáng)大的粒度分析與Zeta電位儀。