首頁>>北京英格海德分析技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>等離子體-材料表面>>飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 參考價:面議
Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用規模,包括聚合物提供有力支撐,藥物處理方法,超導(dǎo)體,半導(dǎo)體背景下,合金建設,光學(xué)和功能涂層以及...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)