對不同尺寸的標(biāo)準(zhǔn)濾紙進(jìn)行高精度掃描分析需求，并結(jié)合偏光光闌技術(shù)對顆粒進(jìn)行反光和非反光的區(qū)分堅定不移，以對金屬與非金屬顆粒的判定提供直接的參考數(shù)據(jù)和影像。同時(shí)可依據(jù)不同長寬比的設(shè)定對纖維與非纖維進(jìn)行精確分類更讓我明白了，對于粘結(jié)顆劣y而上？稍趯?shí)際視場下進(jìn)行確認(rèn)并采用數(shù)碼分割法進(jìn)行分割，以確保實(shí)際判斷的準(zhǔn)確性探索。

分辨率：1um

檢測顆粒≥15um

一堅持先行、RXV S9D自動(dòng)清潔度分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

全自動(dòng)運(yùn)行掃描，無縫拼接技術(shù)

經(jīng)過色差校正的高分辨率光學(xué)系統(tǒng)

采用像素解決方案

電腦控制和操作桿控制XY電動(dòng)平臺

優(yōu)化色溫恒定LED光纖照明

簡單而快捷的操作界面

掃描過程中的實(shí)時(shí)結(jié)果

大的可靠性和重復(fù)性

自動(dòng)計(jì)算金屬顆粒滿意度，非金屬顆粒情況較常見，纖維顆粒

二.RXV S9D自動(dòng)清潔度分析儀系統(tǒng)性能

圖像捕獲:具有高分辨率實(shí)時(shí)彩色圖像捕獲能力，可以實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)捕獲圖像序列模樣，并自動(dòng)拼接成一張完整的濾膜全貌圖片生產體系，顆粒無明顯錯(cuò)位，保證分析精度很重要。

可以縮小放大能力和水平，實(shí)時(shí)觀察大圖中任意地方的局部放大圖，也可以全圖觀察異常狀況⊙芯?？苫乜慈魏我粋€(gè)顆粒。

一鍵流程化設(shè)計(jì)應用創新。

圖像標(biāo)定:根據(jù)光學(xué)放大倍數(shù)定標(biāo)圖像深化涉外，為圖像測量提供測量基準(zhǔn)。

動(dòng)態(tài)設(shè)定分析閾值:為以后全圖分析提供提取目標(biāo)的依據(jù)生產製造。

標(biāo)準(zhǔn)自定義加入:內(nèi)置ISO16232/VDA19標(biāo)準(zhǔn)開展試點，用戶可以根據(jù)需要加入不同的分析標(biāo)準(zhǔn)，或選擇已有標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析共同。軟件支持現(xiàn)行多種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析推進一步。

金屬、非金屬簡單化、纖維區(qū)分力度，按照ISO16232/VDA19等標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)分析。

自動(dòng)檢測分辨出微粒類型(金屬、非金屬勇探新路、纖維)

評價(jià)參數(shù)(長度單產提升、寬帶、面積試驗、纖維長度)

根據(jù)不同的測量任務(wù)分別來設(shè)置和儲存相應(yīng)的配置

方便導(dǎo)出所有分析數(shù)據(jù)到EXCEL至數(shù)據(jù)庫

按照標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232 計(jì)算工件清潔度代碼(CCC)

有效微粒處理(例如重疊微粒)

汽車清潔度顆粒檢測儀是精密設(shè)計(jì)的零部件清潔度分析系統(tǒng)勞動精神，對過濾紙的殘留粒子進(jìn)行檢測，重要的是能對工件的清潔程度進(jìn)行可靠和再現(xiàn)性的評估製度保障。

本清潔度分析系統(tǒng)采用10倍像素解決方案預下達，確保分析精度。

全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)會自動(dòng)將顆粒分為以下三類：

金屬顆粒：通常是關(guān)注的統籌推進，并且是關(guān)鍵的顆粒方案。

非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒的必然要求。

纖維：這些顆粒在測試的準(zhǔn)備和操作過程中是無法避免的研究成果。因此，即使有時(shí)候纖 維是濾膜上蕞大的顆粒完善好，其關(guān)注度也是相對不高首次。

將顆粒預(yù)分為三類,可減少手動(dòng)操作的工作量,并且蕞大限度的關(guān)注所有與實(shí)際操作相關(guān)的顆粒。

通過偏振鏡機(jī)構(gòu)對濾膜進(jìn)行二次掃描部署安排，并實(shí)現(xiàn)對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統(tǒng)計(jì)和鑒別。 針對塑料技術、玻纖等同樣會產(chǎn)生反射的物體推廣開來，系統(tǒng)會自動(dòng)將其與金屬顆粒區(qū)分開，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險(xiǎn)相對較高。

備注：

本設(shè)備設(shè)計(jì)參考理論依據(jù)

1.ISO 16232-7/VDA19對顆粒屬性定義

2資源配置、ISO 16232-7/VDA19分辨率定義

3、根據(jù)VDA 19.1理論：弱化/避開小顆粒測試是近來的發(fā)展趨勢相關，只有少數(shù)特殊案例大力發展，其部件間隙容差非常小，會要求分析長度在5～50μm的顆粒生產效率，在實(shí)際常規(guī)案例中產能提升，長度在5～50μm的顆粒是沒有相關(guān)性的，而且對這么小的顆粒進(jìn)行分析工作量十分巨大節點，甚至?xí)蔀橐环N工作阻礙通過活化。因此，現(xiàn)在已將大于50μm的顆粒分析作為標(biāo)準(zhǔn)要求的特點。