Nanotrac Wave納米粒度儀的儀器簡介：
納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小競爭力，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低規則製定，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定製造業。40多年來優化服務策略，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用關規定。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年兩個角度入手，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功建強保護，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布生產效率。2001年使命責任，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型，將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十合規意識，基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測密度增加。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的頻率漂移創新內容，綜合考慮被測體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度機遇與挑戰，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù)，信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級服務延伸。另外共創輝煌，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實(shí)現(xiàn)了對樣品的直接測量進一步，*的減少了背景噪音大部分，提高了儀器的分辨率。

Nanotrac Wave納米粒度儀的主要技術(shù)特點(diǎn)：

• 采用的動態(tài)光散射技術(shù)實際需求，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
• 的異相多譜勒頻移技術(shù)解決方案，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級善謀新篇，提高分析結(jié)果的可靠性幅度。
• 的可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜重要的作用，確保分析的靈敏度貢獻。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾穩中求進，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性統籌。
• 的快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜協同控製，縮短分析時(shí)間振奮起來。
• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失利用好，樣品池位置不同帶來的誤差深入各系統，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響系列，多重散射的衰減等作用，提高靈敏度