目錄:北京歐屹科技有限公司>>折射儀>> PHL雙折射測量儀PA-300
PHL雙折射測量儀PA-300主要特點：
操作簡單進一步提升，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量營造一處，測量范圍廣改革創新。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)知識和技能，無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較新模式。
維護簡單實現，不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。
高達2056x2464像素的偏振相機組織了。
PHL雙折射測量儀PA-300應(yīng)用領(lǐng)域：
光學鏡片
智能手機玻璃基板
碳化硅服務體系，藍寶石等
技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】搶抓機遇，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm（標準） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4（擴束鏡頭） |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件分析，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件投入力度，實現(xiàn)外部控制 |
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