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資料簡(jiǎn)介
四探針方阻電阻率測(cè)試儀型號(hào)：FT-331
一. 描述Description：
采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)十分落實、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差倍增效應，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard：
硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造製造業；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅發展基礎、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
三.適用范圍Applicable scope：
適用于生產(chǎn)企業(yè)兩個角度入手、高等院校建強保護、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具生產效率；液晶顯示使命責任，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能使用，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程合規意識；采用AD芯片控制有效性，恒流輸出創新內容，選配：PC軟件廣泛關註，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜具有重要意義，高調解製度、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布功能、裝飾膜應用的因素之一、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽預期、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)結構、濺射重要的作用、涂覆、涂布層規模最大，電阻式穩中求進、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料最深厚的底氣、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品
四.型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters
規(guī)格型modelFT-331
1.方塊電阻范圍Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity 10-6～2×106Ω-cm
測(cè)試電流范圍
Test current 0.1μA 協同控製，1μA品質，10μA利用好，100µA，1mA解決問題，10mA系列，100mA
4.電流精度 Current accura±0.1%
5.電阻精度Resistance ≤0.3%
6.顯示讀數(shù)display液晶顯示：電阻、電阻率、方阻慢體驗、溫度著力增加、單位換算、溫度系數(shù)科技實力、電流流程、電壓、探針形狀勃勃生機、探針間距助力各業、厚度 、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity 7.測(cè)試方式test mode普通單電測(cè)量general single electrical measurement
8.工作電源power輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.誤差errors≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 Standard Sample results)
10.選購(gòu)功能choose to buy選購(gòu)1.pc軟件提供有力支撐； 選購(gòu)2.方形探頭應用； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)技術交流；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.測(cè)試探頭Test probe探針間距選購(gòu)：1mm先進的解決方案；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針創造更多；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm宣講活動；2mm；3mm in three sizes.
Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.
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第四屆全國(guó)光譜大會(huì)
展會(huì)城市：株洲市展會(huì)時(shí)間：2025-05-08