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近些年來(lái)自主研發,納米顆粒材料被越來(lái)越廣泛的應(yīng)用于衣食住行等各領(lǐng)域 內(nèi)確定性,由此帶來(lái)的潛在的納米顆粒污染問(wèn)題,逐漸引起了人們的重 視損耗。單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(spICP-MS)技術(shù)是近年來(lái)發(fā) 展起來(lái)的可用于進(jìn)行納米顆粒表征的方法講故事。使用此方法,可實(shí)現(xiàn)一 次進(jìn)樣同時(shí)完成顆粒粒徑性能穩定、數(shù)量濃度全面革新、元素含量及粒徑分布的分 析。 隨著技術(shù)的不斷發(fā)展情況正常,spICP-MS技術(shù)行業分類,包括硬件以及軟件都得到 了不斷的完善。但目前使用常規(guī)單四級(jí)桿spICP-MS對(duì)樣品中的納 米顆粒進(jìn)行檢測(cè)時(shí)提高鍛煉,仍面臨許多的挑戰(zhàn)發展邏輯。其中,主要的問(wèn)題包 括:1. 在樣品檢測(cè)過(guò)程中有所提升,由于進(jìn)樣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)聽得進,使得樣品的傳輸 效率較低,通常情況下為總進(jìn)樣量的1%-3%重要的作用,因此會(huì)導(dǎo)致樣品消 耗量大更多可能性,同時(shí)在納米顆粒檢測(cè)時(shí)需要延長(zhǎng)采集時(shí)間才能夠獲得足夠 的信號(hào)數(shù)量來(lái)進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),從而造成樣品浪費(fèi)及檢測(cè)效率低的問(wèn) 題反應能力。2. 使用傳統(tǒng)單四級(jí)桿spICP-MS檢測(cè)質(zhì)譜干擾較強(qiáng)元素的納米 顆粒時(shí)共謀發展,由于干擾的原因,會(huì)出現(xiàn)納米顆粒信號(hào)無(wú)法與背景信號(hào)區(qū) 分的情況結構重塑。在實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中聽得懂,納米顆粒樣品量通常較小,因此高質量發展, 在檢測(cè)過(guò)程中全方位,應(yīng)盡量減少樣品消耗。同時(shí)影響力範圍,用戶對(duì)于大量存在的 硅大局、鐵等天然或人工合成的納米顆粒的檢測(cè)需求較高,所以邁出了重要的一步,為了 克服上述問(wèn)題有序推進,高效進(jìn)樣系統(tǒng)與三重四級(jí)桿spICP-MS的組合成為 必然的選擇。 TQ ICP-MS是真正意義上的三重四級(jí)桿ICP-MS,采用雙四級(jí)桿質(zhì) 量選擇器(Q1和Q3)以及四級(jí)桿碰撞反應(yīng)池(Q2)的設(shè)計(jì)堅定不移,可以 完美實(shí)現(xiàn)上述提到的如硅元素等具有挑戰(zhàn)性的元素的準(zhǔn)確分析定 量組合運用。而全新設(shè)計(jì)的單顆粒分析高效進(jìn)樣系統(tǒng),則可以在實(shí)現(xiàn)微 流(10微升/分鐘)進(jìn)樣的同時(shí)迎難而上,完成液體樣品的100%進(jìn)樣積極,節(jié)約 樣品。本研究對(duì)此方法進(jìn)行了初步的摸索堅持先行。
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第四屆全國(guó)光譜大會(huì)
展會(huì)城市:株洲市展會(huì)時(shí)間:2025-05-08