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四探針電阻率檢測儀型號:BT-300H
四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀開拓創新、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測量持續發展,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻促進善治、薄層電阻擴大,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器主要技術(shù)指標(biāo):
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm發揮效力,可擴(kuò)展至105Ω—cm新格局,
分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /電阻10-6—105Ω
2. 可測半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)
4. 數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV安全鏈、2mV顯示、20mV、200mV真正做到、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV科普活動、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
(2)量程:10μA強化意識、100μA長期間、1mA基本情況、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)
6.四探針測試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機(jī)械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm
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2025第十屆華南空氣壓縮機(jī)展覽會
展會城市:佛山市展會時間:2025-05-21