GB/T6547 ASTM D645紙張測(cè)厚儀
GB/T6547 ASTM D645紙張測(cè)厚儀
Labthink蘭光CHY-C2 紙張測(cè)厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3安全鏈、GB/T 6547競爭力、ASTM D645、ASTM D374進一步完善、ASTM D1777集聚、TAPPI T411、ISO 4593關規定、ISO 534發展基礎、ISO 3034、DIN 53105建強保護、DIN 53353同期、JIS K6250、JIS K6328使命責任、JIS K6783效果、JIS Z1702、BS 3983合規意識、BS 4817標(biāo)準(zhǔn)密度增加,適用于塑料薄膜、薄片、隔膜機遇與挑戰、紙張廣泛關註、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量集成技術。
CHY-C2 紙張測(cè)厚儀特 征
微電腦控制就能壓製、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測(cè)量
測(cè)頭自動(dòng)升降
手動(dòng)適應能力、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示更優美、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印
顯示zui大值防控、zui小值成效與經驗、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測(cè)量壓力(非標(biāo)可選)
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
微型打印機(jī)
RS232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
CHY-C2 紙張測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍:0~2mm(常規(guī))
0~6mm堅實基礎;12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測(cè)量速度:10次/min(可調(diào))
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜)稍有不慎;50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)
注:薄膜深入闡釋、紙張任選一種相關性;非標(biāo)可定制
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
凈 重:33kg
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