測量濃度范圍

ppm—99.99%  (不同元素等特點，分析范圍不同)

測量對象狀態(tài)

粉末建言直達、固體、液體

元素分析能力

一次性可測從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素

*分辨率

129eV±5eV

**分析精度

RSD≤0. 1%  (國標標樣)

分析時間

單次測試時間可調(diào)

制冷方式

電制冷將進一步，無需任何耗材

大樣品腔尺寸

400mm x 340mm x 80mm

抽真空樣品腔尺寸

φ100mm×h75mm

外觀尺寸

700mmx510 mmx336mm

工作電源

AC 220V ±5V 合作、50Hz

工作環(huán)境

室內(nèi)溫度 15~30℃緊密相關；相對濕度 ≤80%    (不結(jié)露)

整機重量

56KG

功能優(yōu)勢

1.    外形設計：大方美觀至關重要、堅固耐用增幅最大、多重安全防護模式空白區。

2.    準直濾光系統(tǒng)：準直器+多組合濾光片，軟體自動切換提升， 滿足各種測試應用高品質。

3.    采用自主研發(fā)的SES 信號處理系統(tǒng) (數(shù)字多道) ，有效提 高峰背比支撐能力，讓測量更精準資源優勢。

4.    多維散熱系統(tǒng)：優(yōu)化一體化散熱設計，使整機散熱性能得 到更大提高特征更加明顯，確保 X 射線源的運行安全

5.    輻射安全系統(tǒng)：多重防輻射泄露設計不斷完善，輻射防護級別屬于 同類產(chǎn)品好級

6.    真空系統(tǒng)：選擇抽真空系統(tǒng)，優(yōu)化測試環(huán)境方便，提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度基礎上，大大擴展分析儀的分 析能力各領域。

硬件優(yōu)勢

8.    核心部件整套進口

9.    探測器：原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭，分辨率低 至 129eV±5eV 長效機製，能量線性和能量分辨率好法治力量，高峰背比。

10.  X 射線 管 ： *大 功率 50W 分享、 管 電壓 5-50KV   共享、 管 電流 0- 1000uA；長壽命 X 射線管方式之一。

11.  高壓電源：*大功率 50 W生動、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA創新能力。

8 小時穩(wěn)定性≤0.05%新品技。

12.  信號處理器：采用進口信號處理器，適應高分辨率和高計 數(shù)率溝通機製， 自調(diào)放大倍數(shù)好宣講，*大道數(shù)：  4096。

軟件優(yōu)勢

美國丹納赫和我司共同研發(fā)的 X 熒光分析軟件中文版領先水平，該軟 件融合經(jīng)驗系數(shù)法、理論α系數(shù)法雙重提升、線性擬合戰略布局、二次曲線、強 度校正表現明顯更佳、含量校正等多種分析方法狀態，全面保證測試數(shù)據(jù)的準確 性。

系統(tǒng)選配

1.    光譜專用研磨機 (選配)

2.    光譜專用熔樣機 (選配)

3.    光譜專用制粉機 (選配)

4.    熔樣鉑金坩堝 (選配)

5.    光譜儀專用壓片機 (選配)