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金屬含量測(cè)試儀器

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金屬含量測(cè)試儀器
測(cè)試金屬含量?jī)x器超的穩(wěn)定性技術發展,超的重復(fù)性集聚效應,可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
X射線光譜金屬含量測(cè)試儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)重要手段、采礦互動講、金屬元素(合金材料、鋼鐵成分)像一棵樹、土壤過程中、環(huán)境、考古能運用、木材達到、電子、醫(yī)藥不可缺少、環(huán)保等等

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我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長(zhǎng)色散型)(XRF)蓬勃發展、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、原子熒光光譜儀(AFS)重要的角色、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)開放要求、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)平臺建設、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS)貢獻力量、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer)使用、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器發行速度、五金塑膠更加堅強、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb性能、砷As初步建立、銻Sb、鋇Ba溝通協調、鎘Cd要素配置改革、鉻Cr、Hg保障性、硒Se以及氯等鹵族元素帶動產業發展、建材(水泥、玻璃十分落實、陶瓷等)倍增效應、合金(銅合金規則製定、鋁合金鎂合金等)優化服務策略、冶金(鋼鐵關規定、稀土、鉬精礦兩個角度入手、其它黑色及有色金屬等)建強保護、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無(wú)鹵測(cè)試等)創新為先、石油化工真正做到、嶺土、煤炭創新延展、食品強化意識、空氣、水質(zhì)基本情況、土壤現場、、商品檢驗(yàn)力量、質(zhì)量檢驗(yàn)我有所應、人體微量元素檢驗(yàn)等等。總之銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析深入實施,化合物測(cè)試至關重要,電鍍鍍層厚度檢測(cè)。

檢測(cè)鋼鐵元素成分含量(含各種合金效果,不銹鋼等)有所應,簡(jiǎn)單方便的X熒光光譜儀,精度穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專(zhuān)業(yè)測(cè)試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀合作關系,介紹如下:

金屬含量測(cè)試儀器

儀器介紹:

   手持式儀器資料:

X射線熒光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)敢於監督、采礦、金屬結構、土壤重要的作用、環(huán)境、考古規模最大、木材穩中求進、電子、醫(yī)藥成效與經驗、環(huán)保適應性、啤酒、電力、石化重要作用、玩具等地、大型工程。X射線熒光光譜分析儀尤為突出,有效檢的應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)規定、合金分析、礦石分析空間載體、環(huán)境分析的產(chǎn)品高質量,目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門(mén)。

合金分析儀*性能

. 超的檢測(cè)精度度重要組成部分。

. 超的穩(wěn)定性流程,超的重復(fù)性。

. 優(yōu)異的線性相關(guān)性勃勃生機。

. 超過(guò)1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)助力各業,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個(gè)體系使散熱非常有效提供有力支撐,延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定應用,從而故障率極低。

. SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍品率。

. 可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素積極拓展新的領域。

. 內(nèi)置的氣壓計(jì)可以糾正氣壓不可缺少,氣壓計(jì)壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,從而是檢測(cè)值更加準(zhǔn)確新技術,儀器預(yù)設(shè)海平面,客戶(hù)在不同的海拔度測(cè)試進一步完善,無(wú)需再次校準(zhǔn)最深厚的底氣。

. 內(nèi)置的加速器可探測(cè)運(yùn)動(dòng)和震動(dòng)全過程,使儀器不用時(shí)待機(jī),拿起時(shí)工作損耗。

. 智能接駁座可對(duì)額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度非常完善,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)性能穩定,可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化,儀器隨時(shí)待命狀態(tài)作用。

. 儀器即使在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)情況正常,在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池,有超過(guò)30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池技術特點。

. 儀器開(kāi)機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化提高鍛煉,可以直接測(cè)試,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng)。

. 儀器外殼采用鋁合金有所提升、塑膠設(shè)計(jì)聽得進,堅(jiān)固耐用,手柄軟膠設(shè)計(jì)先進水平,手感好,更適合長(zhǎng)時(shí)間使用便利性。

. 儀器具有很好的平衡性,在測(cè)試時(shí)能立于工作臺(tái)上重要平臺,不需要用手扶持深刻認識,一鍵式按鈕設(shè)計(jì),即使長(zhǎng)時(shí)間操作也無(wú)疲勞感應用提升。

. 工業(yè)級(jí)可觸摸的顯示屏與主機(jī)一體化密封設(shè)計(jì)主動性,可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天發展的關鍵、塵土飛揚(yáng)的礦山環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間正常工作道路。

合金分析儀技術(shù)性能

. 真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面帶動產業發展,無(wú)須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)責任製。

. 被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊、合金片倍增效應、合金線規則製定、合金渣、合金粉需求。

. 不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測(cè)試方法能檢測(cè)很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)堅定不移。

. 可延伸的探頭設(shè)計(jì)能對(duì)管道內(nèi)部、焊縫,等位置進(jìn)行檢測(cè)更讓我明白了。

. 可檢測(cè)溫度達(dá)450℃的溫材料迎難而上。

. 可現(xiàn)場(chǎng)在庫(kù)中添加,編輯,刪除合號(hào)。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別合金元素探索。

. 用戶(hù)化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成堅持先行,用戶(hù)化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,使程序更具靈活性滿意度。

. 無(wú)需借助電腦情況較常見,可在現(xiàn)場(chǎng)隨意,查看主要抓手,放大相關(guān)元素的光譜圖體製。

. 防塵,防霧,防水:一體機(jī)設(shè)計(jì),軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計(jì)創新科技,使儀器具有很好的三防性能服務延伸,可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚(yáng)工裝場(chǎng)地也能正常工作。

. 更的檢測(cè)精度,多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提儀器的檢測(cè)精度進一步。

. 超大的圖標(biāo)顯示大部分,菜單式驅(qū)動(dòng),微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便應用的因素之一。

. 電磁干擾被屏蔽解決,即使在靠近或雙向無(wú)線通信裝置處也能正常工作。

合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號(hào)元素Mg到94號(hào)元素PU之間的所有合金敢於監督。


合金分析儀器的分析模式與元素種類(lèi)

分析模式

分析元素

元素分析范圍

分析范圍:從12號(hào)元素Mg鎂到94號(hào)元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素幅度,在以上范圍內(nèi),可以根據(jù)客戶(hù)需要更換其他元素重要的作用。

Alloy Beam1模式

, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素貢獻。

Alloy Beam2模式

, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素


直讀光譜儀簡(jiǎn)介:

型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了的CMOS信號(hào)采集元件穩中求進,每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)統籌,與光譜儀yi流技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源協同控製。這款CMOS光譜儀單產提升,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限試驗,整機(jī)設(shè)計(jì)合理勞動精神,操作簡(jiǎn)單易學(xué),具有數(shù)據(jù)製度保障,長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)預下達。

應(yīng)用領(lǐng)域

冶金、鑄造統籌推進、機(jī)械方案、科研、商檢了解情況、汽車(chē)深入、石化、造船重要的、電力深刻變革、航空、核電和諧共生、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析適應性強。

可檢測(cè)基體

鐵基技術交流、銅基、鋁基、鎳基創造更多、鈷基宣講活動、鎂基、鈦基工藝技術、鋅基效率、鉛基、錫基近年來、銀基講道理。

主要技術(shù)參數(shù)

v  光學(xué)系統(tǒng):帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

v  波長(zhǎng)范圍:140~680nm

v  光柵焦距:401mm

v  探 測(cè) 器:性能CMOS陣列/CCD陣列

v  光源類(lèi)型:數(shù)字光源,能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)

v  放電頻率:100-1000Hz

v  放電電流:大500A

v  工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W

v  檢測(cè)時(shí)間:依據(jù)樣品類(lèi)型而定技術先進,一般20S左右

v  電極類(lèi)型:鎢材噴射電極

v  分析間隙:4mm

v  其他功能:真空更多的合作機會,溫度,軟件自動(dòng)控制健康發展;壓力有效保障,通訊監(jiān)測(cè)

主要特點(diǎn)

v  性能光學(xué)系統(tǒng)

采用精度的CMOS元件可測(cè)定非金屬元素如C、P長效機製、S講實踐、As、B奮戰不懈、N以及各種金屬元素含量市場開拓;測(cè)定結(jié)果,重復(fù)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性hao有所增加。

v  自動(dòng)光路校準(zhǔn)

自動(dòng)光路校準(zhǔn)各項要求,光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描,確保接收的正確性越來越重要的位置,免除繁瑣的波峰掃描工作新技術;

儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比,確定漂移位置順滑地配合,找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定深入。

v  插拔式透鏡設(shè)計(jì)

真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作前沿技術,光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu)基礎,日常清洗維護(hù)方便快捷。

v  真空防返油技術(shù)

多級(jí)隔離的真空防返油技術(shù)多種方式,采用真空壓差閥門(mén)保證真空泵不工作時(shí)真空光室與真空*隔離對外開放;中間增加了真空濾油裝置,確保真空泵中油不進(jìn)入真空室深入交流研討,保障CMOS檢測(cè)器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作資料。

v  開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)

開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計(jì)廣泛應用,以滿(mǎn)足客戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)的各種形狀大小的樣品分析;配合使用小樣品夾具橫向協同,線材低分析可達(dá)到3mm哪些領域。

v  噴射電極技術(shù)

采用的噴射電極技術(shù),使用鎢材料電極不斷創新,在激發(fā)狀態(tài)下建立和完善,電極周?chē)鷷?huì)形成氬氣噴射氣流,這樣在激發(fā)過(guò)程中激發(fā)點(diǎn)周?chē)粫?huì)與外界空氣接觸參與水平,提激發(fā)精度大型;配上du特氬氣氣路設(shè)計(jì),大大降低了氬氣使用量優化上下,也降低客戶(hù)使用成本能力建設。

v  集成氣路模塊

氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護(hù)設(shè)計(jì),替代電磁閥和流量計(jì)生產體系,電極自吹掃功能服務,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。

v  數(shù)字化激發(fā)光源

數(shù)字激發(fā)光源能力和水平,采用為的等離子激發(fā)光源覆蓋,超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品;可任意調(diào)節(jié)光源的各項(xiàng)參數(shù)研究,滿(mǎn)足各種不同材料的激發(fā)要求高效。

v  速數(shù)據(jù)采集

儀器采用性能CMOS檢測(cè)元件,具有每塊CMOS單獨(dú)超速數(shù)據(jù)采集分析功能提高,并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光室溫度機構、真空度、氬氣壓力交流、光源基礎、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài)。

v  以太數(shù)據(jù)傳輸

計(jì)算機(jī)和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議還不大,避免電磁干擾高產,光纖老化的弊端,同時(shí)計(jì)算機(jī)和打印機(jī)*外置發揮作用,方便升級(jí)和更換良好;可以遠(yuǎn)程監(jiān)控儀器狀態(tài),多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)銘記囑托。

v  預(yù)制工作曲線

備有不同材質(zhì)和牌號(hào)的標(biāo)樣庫(kù)引領,儀器出廠時(shí)工廠預(yù)制工作曲線,方便安裝調(diào)試和及時(shí)投入生產(chǎn)示範;根據(jù)元素和材質(zhì)對(duì)應(yīng)的分析程序而稍有差異勞動精神,激發(fā)和測(cè)試參數(shù)儀器出廠時(shí)已經(jīng)調(diào)節(jié)好開展攻關合作,根據(jù)分析程序可自動(dòng)選擇優(yōu)測(cè)試條件。

v  分析速度快

分析速度快預下達,僅需20秒即可完成一次分析;針對(duì)不同的分析材料統籌推進,通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及測(cè)量時(shí)間方案,使儀器用短時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果。

金屬含量測(cè)試儀器

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