光纖光譜儀-Black系列更新：2022-12-30 17:42:05點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌Stellarnet產(chǎn)品型號Black系列產(chǎn)品描述凹面光柵式設(shè)計講實踐，內(nèi)部無過多的光學(xué)元器件，很大程度上降低雜散光（0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm）奮戰不懈。波長范 圍190-900nm市場開拓，適用于熒光和低雜散光實驗要求。...PDF下載 詢價 申請樣品

描述

凹面光柵式設(shè)計有所增加，內(nèi)部無過多的光學(xué)元器件各項要求，很大程度上降低雜散光（0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm）。波長范 圍190-900nm越來越重要的位置，適用于熒光和低雜散光實驗要求新技術。

Black-wave 凹面光柵光纖光譜儀

凹面光柵設(shè)計，用于UV/VIS/NIR應(yīng)用

減少表面光折射

平滑光柵降低光散射

紫外靈敏度增強(qiáng)

同一分辨率

減少偏差(散光順滑地配合，球面像差)

極大的減少光譜儀中雜散光深入，獲取光譜曲線

技術(shù)參數(shù)

動態(tài)范圍                         2000:1 with 6 decades

尺寸                             69 x 100 x 150 mm

光學(xué)分辨率                       see above

功率                             100 mA @ 5 VDC

探測器類型                       2048 pixel CCD, PDA opt.

接口                             USB-2

探測器范圍                       200-1080 or 220-1100 nm

數(shù)據(jù)傳輸速度                     3x / 40x faster than USB-1

像素尺寸                         14 um x 200 um

積分時間                         1 ms to 65 s

凹面光柵                         Aberration corrected

狹縫選擇                         14, 25, 50, 100, 200 um

光柵類型                         Holographic, 590 g/mm

雜散光                           0.02% at 435 nm; 0.2% at 200 nm