單光子計(jì)數(shù)型更新：2024-2-23 17:33:59點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌Dectris產(chǎn)品型號EIGER系統穩定性，PILATUS3拓展基地，MYTHEN產(chǎn)品描述采用Hybrid Photon Counting技術(shù)，無讀出噪聲與暗噪聲實力增強，從而使信噪比達(dá)到極優(yōu) 體系流動性，最小75um的像元尺寸，保證了優(yōu)質(zhì)的空間分辨率...PDF下載 詢價(jià) 申請樣品

描述

Dectris公司的X射線檢測設(shè)備帶來全新智能，采用其技術(shù)Hybrid Photon Counting實現了超越，能夠?qū)崿F(xiàn)對X射線以單光子技術(shù)的形式直接檢測，并且采用了最小75um的像元新型儲能，保證了良好的空間分辨率創新能力，其產(chǎn)品分為三個主要系列，即EIGER範圍，PILATUS3求得平衡，MYTHEN，能夠很好的滿足科研與工業(yè)客戶的應(yīng)用註入新的動力。

產(chǎn)品特點(diǎn)

采用Hybrid Photon Counting技術(shù)

無讀出噪聲與暗噪聲領先水平，從而使信噪比達(dá)到極優(yōu)

最小75um的像元尺寸，保證了優(yōu)質(zhì)的空間分辨率

高計(jì)數(shù)率雙重提升，能夠達(dá)到Count rates up to 5×10⁸ phts/s/mm 2

EIGER能夠是實(shí)現(xiàn)室溫工作戰略布局，無需制冷

探測器體積小巧事關全面，便于集成

應(yīng)用

X射線單晶衍射

X射線粉末衍射

小型和廣角X-射線散射

X射線成像

X射線表面衍射

X射線漫散射

X射線衍射

X射線結(jié)構(gòu)測定與細(xì)化

X射線物相分析

混合物X射線定量分析

時(shí)間分辨率的測量

殘余應(yīng)力分析

同步輻射小角X射線散射

X射線熒光光譜