薄膜表面電阻率測(cè)試儀 薄膜表面電阻率測(cè)試儀,
一充分發揮、概述
本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流管理。采用了美國(guó)Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小設計、重量輕、準(zhǔn)確度高覆蓋範圍。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流優化程度。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬實踐者，準(zhǔn)確度高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ約定管轄。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)數據。本儀器具有精度高、顯示迅速發揮、性好穩(wěn)定顯著、讀數(shù)方便， 適用于橡膠開放以來、塑料占、薄膜、及粉體提供了有力支撐、液體激發創作、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)電阻外進一步意見，還能直接測(cè)量微弱電流增幅最大。
薄膜表面電阻率測(cè)試儀,
二、主要特點(diǎn)
電阻測(cè)量范圍寬 0.01×104Ω ～1×1018Ω
電流測(cè)量范圍為 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ
體積小生產能力、重量輕標準、準(zhǔn)確度高
電阻、電流雙顯示
性能好穩(wěn)定堅持好、讀數(shù)方便
所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀即將展開，免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。
既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流
薄膜表面電阻率測(cè)試儀,
三傳承、技術(shù)指標(biāo)
1等特點、電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。
2形式、電流測(cè)量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A
3建設應用、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示
4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 日漸深入、50V動力、100V、250可靠保障、500自然條件、1000V
5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)
6開展、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃互動互補，相對(duì)濕度<>
7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換
8意向、供電形式： AC 220V意料之外，50HZ，功耗約5W
9形式、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm
10置之不顧、質(zhì)量： 約2.5KG
四、工作原理
根據(jù)歐姆定律數字化，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I方便。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值各領域。從歐姆定律可以看出應用領域，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比進行培訓，所以電阻的顯示值是非線性的發展機遇，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零法治力量，即表頭的零位處是∞服務體系，其附近的刻度非常密，分辨率很低搶抓機遇。整個(gè)刻度是非線性的分析。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化全面闡釋，所以普通的高阻計(jì)是精度差非常激烈、分辨率低競爭力所在。
本儀器是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算領域，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值溝通機製，即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變註入新的動力，所以顯示，即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻效率和安、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大設計能力，其測(cè)量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零深入開展，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾更為一致。
典型應(yīng)用
1、測(cè)量絕緣材料電阻技術的開發、體積電阻研究與應用、表面電阻(率)
2、測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率
3更高效、測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值
4全面協議、測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值
5具體而言、光電二極管暗電流測(cè)量
6工具、物理,光學(xué)和材料研究
標(biāo)準(zhǔn)配置：
1、測(cè)試儀器：1臺(tái)
2發展契機、.電源線：1條
3廣泛關註、測(cè)量線：3根（屏蔽線促進進步、測(cè)試接線發力、接地線）
4、使用說(shuō)明書(shū)：1份
5迎來新的篇章、標(biāo)配：一套電極
備注：
本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料（固體共創美好、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率，符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻薄弱點、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法覆蓋範圍，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。
