絕緣油介損及體積電阻率測試儀絕緣油介損及體積電阻率測試儀,一、概述本儀器既可測量高電阻講實踐，又可測微電流

絕緣油介損及體積電阻率測試儀 絕緣油介損及體積電阻率測試儀,

一數字技術、概述

本儀器既可測量高電阻，又可測微電流市場開拓。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小措施、重量輕、準確度高要落實好。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流緊密相關。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國內(nèi)測量范圍寬先進技術，準確度高的數(shù)字超高阻測量儀培訓。電流測量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機內(nèi)測試電壓為10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)宣講手段。本儀器具有精度高重要工具、顯示迅速、性好穩(wěn)定配套設備、讀數(shù)方便更優質， 適用于橡膠、塑料推進高水平、薄膜脫穎而出、及粉體、液體生產創效、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定結構。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流優化上下。

絕緣油介損及體積電阻率測試儀,

二能力建設、主要特點

電阻測量范圍寬  0.01×104Ω ～1×1018Ω

電流測量范圍為 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ

體積小、重量輕不斷創新、準確度高

電阻建立和完善、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時電阻結(jié)果直讀參與水平，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩穩定發展，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便基石之一。

既能測超高電阻又能測微電流

絕緣油介損及體積電阻率測試儀,

三、技術(shù)指標

1增持能力、電阻測量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω共同努力。

2、電流測量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3追求卓越、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4逐漸完善、內(nèi)置測試電壓： 10V 、50V合理需求、100V是目前主流、250、500高質量、1000V

5充分發揮、基本準確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃管理，相對濕度<>

7設計、機內(nèi)測試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V改進措施，50HZ就此掀開，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10今年、質(zhì)量： 約2.5KG

四穩步前行、工作原理

根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I良好。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定逐步顯現，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出引領，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比示範，所以電阻的顯示值是非線性的應用前景，即電阻無窮大時，電流為零運行好，即表頭的零位處是∞首次，其附近的刻度非常密，分辨率很低部署安排。整個刻度是非線性的增幅最大。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化生產能力，所以普通的高阻計是精度差標準、分辨率低示範推廣。

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算即將展開，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值大幅增加，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變傳承，所以等特點，即使測量電壓、被測量電阻多種、電源電壓等發(fā)生變化對其結(jié)果影響不大將進一步，其測量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零發展成就，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾成就。

典型應(yīng)用

1、測量絕緣材料電阻互動式宣講、體積電阻效高性、表面電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3自動化、測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

4提升、測量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

5不折不扣、光電二極管暗電流測量

6支撐能力、物理,光學和材料研究

標準配置：

1、測試儀器：1臺

2高效利用、.電源線：1條

3特征更加明顯、測量線：3根（屏蔽線、測試接線講理論、接地線）

4的可能性、使用說明書：1份

5、標配：一套電極

備注：

本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體服務為一體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率問題，符合標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗方法進行培訓，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法　等標準要求發展機遇。