低噪聲核心技術體系，高動(dòng)態(tài)范圍

系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的輸出功率與測(cè)試端口本底噪聲的差值持續發展。SNA5000A擁有125 dB的動(dòng)態(tài)范圍必然趨勢，可適用于對(duì)動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測(cè)試場景，比如同時(shí)測(cè)量濾波器的通帶和帶外抑制性能供給。

的外觀設(shè)計(jì)

不管是在研發(fā)還是在現(xiàn)代化的生產(chǎn)線的方法，區(qū)別于傳統(tǒng)笨重的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，SNA5000A超前的外觀設(shè)計(jì)都能為工程師或者產(chǎn)線節(jié)省大量的桌面空間進行探討。

多樣化的顯示

除開外觀設(shè)計(jì)，其的用戶界面服務水平，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標(biāo)和鍵盤最新，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線處理方法。SNA5000A支持在多個(gè)窗口下重要作用，添加多條跡線進(jìn)行S參數(shù)測(cè)量。并且測(cè)量結(jié)果習慣，可以多種數(shù)據(jù)格式顯示充足，如 Log Mag，Lin Mag的積極性，Phase綠色化發展，Delay，Smith不久前，SWR用上了，Polar等，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù)能力建設，反射系數(shù)關註，駐波比，阻抗匹配無障礙，相位連日來，延時(shí)等參數(shù)。

時(shí)域分析功能及眼圖功能

在微波射頻領(lǐng)域認為，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)系統。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性至關重要。目前SNA5000A系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸發展空間，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換有所應，去嵌入足了準備，適配器移除等。

另外，SNA5000A系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能深刻內涵，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗傳遞，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。