LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)
目前，硬度測(cè)試可采用的方法很多管理，如布氏顯示、洛式、維氏效率和安、里氏設計能力、超聲波法等。其中布氏和洛式對(duì)被測(cè)物表面損傷較大深入開展、而維氏成本較高更為一致，且都不能測(cè)試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測(cè)量硬度技術的開發，測(cè)試布氏研究與應用、洛式、維氏偏差較大更高效。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展全面協議，超聲波無(wú)損檢測(cè)方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測(cè)厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用具體而言，而超聲波硬度計(jì)也在國(guó)外普及工具。
LAB-H1 超聲波硬度計(jì)原理
使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測(cè)件接觸，在均勻的接觸壓力下發展契機，探測(cè)頭的諧振頻率隨硬度而改變廣泛關註，通過(guò)計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測(cè)量硬度的目的，該方法對(duì)被測(cè)件的損傷極小發力，與上述其它方法相比具有很大的性優勢領先∮瓉硇碌钠?；谝陨显恚夜疽M(jìn)歐洲原裝超聲波硬度計(jì)探頭推動並實現，研制出精度高薄弱點、功能強(qiáng)大的LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。
超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f優化程度，Eeff）積極性， △f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量不斷豐富、F是彈簧壓緊力實施體系。
應(yīng)用場(chǎng)合
LAB-H1超聲波硬度計(jì)可測(cè)量的工件部位包括法蘭盤(pán)邊緣和齒輪根部沖壓件；工模各有優勢、薄板效果較好；表面硬化的齒和齒輪的測(cè)量；錐度部分硬度測(cè)量核心技術體系；軸和薄壁管道開拓創新、容器的測(cè)量；車(chē)輪必然趨勢、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測(cè)量促進善治；鉆頭的刀口的硬度測(cè)量；焊接部位多樣性；
LAB-H1超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)
o 測(cè)定與金屬發揮效力、合金洛氏(HRC), 布氏 (HB), 維氏 (HV)標(biāo)準(zhǔn)硬度制
o 通過(guò)三個(gè)用戶模式測(cè)量不同屬性的金屬(如有色金屬, 高合金等.)
o 符合標(biāo)準(zhǔn)JBT 9377-2010、ASTM A1038-2005明顯、DIN50159
o 通過(guò)布氏硬度可自動(dòng)計(jì)算出抗拉強(qiáng)度
o 可測(cè)量厚度超過(guò)1毫米的各種部件（工模服務水平、齒輪、薄板技術創新、管道處理方法、水箱等等）
o 對(duì)曲軸刀具等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小
o 測(cè)量范圍寬
o 使用簡(jiǎn)單方便，測(cè)量快速準(zhǔn)確
o 可自行校準(zhǔn)儀器(通過(guò)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對(duì)儀器測(cè)值校準(zhǔn))
o 液晶顯示持續向好，帶背光
o 自由選擇10N習慣、50N、100N探頭進展情況，儀器自動(dòng)識(shí)別
o 不受測(cè)量物內(nèi)側(cè)情況影響的積極性，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位
o 測(cè)量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測(cè)量
LAB-H1超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
| 測(cè)試范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV 抗拉強(qiáng)度, MPa | 20 - 70 90 - 450 230 - 940 370 - 1740 |
| 誤差范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV | ± 1 ± 3% ± 3% |
| 外形尺寸, mm | 122x65 x24 |
| 操作溫度° C | -5至+40 |
| 電源 | 2節(jié)AA電池 |
| 持續(xù)工作時(shí)間, 不少于 | 100小時(shí) |
| 主機(jī)重量, kg | 0.9千克 |
訂貨型號(hào)
| 名稱(chēng)型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
| 超聲波硬度計(jì) LAB-H1 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支 |
| 復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭 |
| 里氏硬度計(jì) LAB-H3 | 標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支 |
標(biāo)準(zhǔn)配置清單
o 主機(jī)
o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）
o 2節(jié)AA電池
o 說(shuō)明書(shū)
o 線纜
o 儀器便攜包裝
o 2個(gè)硬度標(biāo)準(zhǔn)塊
可選配置
o 10N探頭和100N探頭
o 充電器
o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊
超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)
| 測(cè)試裝置 | 超聲波探頭 | 里氏探頭 |
| 長(zhǎng)度： | 160mm | 140mm |
| 直徑 | 25mm | 25mm |
| 壓痕深度 | 30μm | 300 μm |
| 壓力 | 14.7N | 11Nm |
| 傳感器測(cè)試壽命
(大約) | 200,000 | 50,000 |
| 最小測(cè)試厚度
(鋼) | 1mm | 12mm |
| 最小測(cè)試半徑 | 5mm | 10mm |
| 表面粗糙度 | Ra 2.5 μm | Ra 3.2 μm |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 1000個(gè)測(cè)試值 | 100個(gè)測(cè)試值 |
| 測(cè)試時(shí)間 | 4秒 | 2秒 |
