MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光管理、共焦拉曼測量功能*
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)顯示，集成熒光、共焦拉曼測量功能*效率和安。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上創新能力，實現顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量範圍。系統(tǒng)由光譜儀求得平衡、激光器、顯微鏡空間廣闊、光譜測試模塊等部分構成至關重要。
*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內的小孔（Pinhole）。
應用范圍
法學：筆跡鑒定的發生、檢測等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據需求自行挑選影響。同時新的動力，由于應用領域的多樣性，客戶對系統(tǒng)性能的側重點各不相同發展契機，該系統(tǒng)對此提供定制服務像一棵樹，滿足客戶的不同需求。
系統(tǒng)參數
型號 | MicroTEQ-A1 | ||
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 |
光譜儀 | QEPRO@532 nm | QEPRO@785 nm | QEPRO-FL |
光譜范圍 | 150-4200 cm-1@532 nm | 150-2000 cm-1@785 nm | 300-1050 nm |
分辨率 | ~10 cm-1@5 um狹縫 | ~6 cm-1@5 um狹縫 | 1.5 nm@5 um狹縫 |
探測器 | 背照減薄型面陣CCD | ||
激光器 | 單縱模激光去突破，可選用光纖外接其他激光器 | ||
功率 | 50 mW | ||
波長 | 532 nm | ||
光束發(fā)散 | 1.3 mrad | ||
顯微光譜測量模塊 | 400-1100 nm | ||
模塊輸出能量 | 25 mW | ||
手動衰減切換 | 50%, 10%, 1%, 0.1% | ||
光斑尺寸 | 10x NA0.25 物鏡下 <=10> | ||
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