快速溫度變化試驗(yàn)箱：升降溫速率為定制，采用溫度加速技巧（在上提供堅實支撐、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)還不大，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮）改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變簡單化，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵選擇適用、制程瑕疵管理、工藝瑕疵]設計，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效改進措施，造成不必要的損失就此掀開。

快速溫度變化試驗(yàn)箱：用途

        運(yùn)用溫度加速技巧（在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)今年，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮）改變外在環(huán)境應(yīng)力穩步前行，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵動手能力、制程瑕疵逐步改善、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中提升，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效大大提高，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果研究成果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程取得了一定進展，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是99%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序大面積。本設(shè)備廣泛應(yīng)用于電工電子積極參與、高新材料問題分析、儀器儀表、LED光電交流研討、LCDLCM更加完善、汽車部件、家電建設應用、科研資源配置、零部件、燈具相關、裝備等行業(yè)大力發展。

快速溫度變化試驗(yàn)箱：低溫機(jī)組 

：測(cè)試參數(shù)

：各標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

B/T 10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GJB 150.3A裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱
GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）