本產(chǎn)品適用檢驗(yàn)雷達(dá)產(chǎn)品/攝像頭以及無(wú)線天線等取得了一定進展，包括激光雷達(dá)，以及電磁波雷達(dá)及其材料在高大面積、低溫及濕熱環(huán)境下儲(chǔ)存積極參與、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)

  本產(chǎn)品適用檢驗(yàn)雷達(dá)產(chǎn)品/攝像頭以及無(wú)線天線等，包括激光雷達(dá)培養，以及電磁波雷達(dá)及其材料在高交流研討、低溫及濕熱環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)形式。

適用標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb

GB/T5170.5-2008 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007) 恒定濕熱試驗(yàn)方法Cab