兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--產(chǎn)品用途
兩箱式冷熱沖擊試驗機為兩箱式動態(tài)沖擊,可作冷熱沖擊試驗,也可以做單獨高溫或單獨低溫使用的可能性。廣泛使用于航空航天、 單位服務為一體、電工電子問題、儀器儀表、材料設(shè)備全會精神、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安 全性測提供可靠性試驗,產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制系統穩定性。
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--性能特點
制冷過程不加熱控制,節(jié)省能源30%以上
自動沖擊溫度自動未卜償系統(tǒng)，溫度沖擊不過沖
樣品檢驗前應(yīng)力消除控制系統(tǒng)
快速除霜控制系統(tǒng)集中展示，除霜時間小于60分鐘
獨立運飼氐溫實力增強，高溫模式，一機三用
的故障自診斷提示功能
自主研猊5代7,真彩控制系統(tǒng)探索創新，成熟穩(wěn)定可靠
三重強勢的安全保護(hù)系統(tǒng)帶來全新智能，確保樣品安全
兩箱式提籃結(jié)構(gòu)，模擬環(huán)境
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
型號 | STJ-PTH-60L | STJ-PTH-100L | STJ-PTH-300L |
工作室尺寸(W*H*L)mm | 450*400*340 | 500*450*450 | 600*750*700 |
外型尺寸(W*H*L)mm | 900*1450*1050 | 1130*1750*1100 | 1300*1850*1300 |
提籃尺寸(W*H*L)mm | 350*400*300 | 400*350*350 | 500*650*600 |
性能
指標(biāo) | 溫度范圍 | -40℃～+150℃/-55℃～+150℃/-65℃～+150℃ |
溫度均勻性 | ≤2.0℃ |
溫度波動 | ≤0.5℃ |
使用環(huán)境溫度 | +5℃～35℃ |
電源 | AC380V 50Hz |
升溫時間（高溫區(qū)） | +25~+190℃ 35分鐘以內(nèi) |
降溫時間（低溫區(qū)） | RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 約70分鐘 |
樣品區(qū)承重 | 100KG | 100KG | 100KG |
控制
系統(tǒng) | 控制器 | 進(jìn)口觸摸式（P新產品、I更優質、D +S、S推進高水平、R.）微電腦集成控制器 |
精度范圍 | 設(shè)定精度：溫度±0.1℃脫穎而出，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃ |
制冷系統(tǒng) | 機械壓縮式復(fù)疊制冷系統(tǒng) 全封閉或半封閉式壓縮機 |
循環(huán)系統(tǒng) | 單循環(huán)，低噪音離心風(fēng)機 |
溫度轉(zhuǎn)換時間 | 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S |
溫度恢復(fù)時間 | ≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)互動式宣講，既冷卻水溫高產、暴露溫差、恒溫時間能力建設、樣品重量有關(guān)） |
溫度沖擊方法 | 垂直二箱法或水平二廂法 |
☆上述指標(biāo)在室溫為+23℃時，溫濕度性能測試按照國家標(biāo)準(zhǔn)《JJF1101-20003》相關(guān)條款檢定生產體系。
