涂料激光粒度儀在涂料粒度及粒度檢測(cè)中的應(yīng)用
激光粒度儀是新型粒徑測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛全面革新，測(cè)試速度快作用，測(cè)試范圍廣。激光粒徑分析儀是根據(jù)激光在被測(cè)顆粒表面發(fā)生散射行業分類，散射光的角度和光強(qiáng)會(huì)因顆粒尺寸的不同而不同技術特點，根據(jù)米氏散射和弗氏衍射理論，可以進(jìn)行粒徑分析。激光粒度儀的測(cè)試方法可以分為干法和濕法2種凝聚力量。干法使用空氣作為分散介質(zhì)有所提升，利用紊流分散原理，能夠使樣品顆粒得到充分分散新的力量，被分散的樣品再導(dǎo)入光路系統(tǒng)中進(jìn)行測(cè)試重要的作用。濕法則是把樣品直接加入到水或者乙醇等分散介質(zhì)中進(jìn)行分散，然后再經(jīng)過光路系統(tǒng)去創新，計(jì)算出粒徑分布足夠的實力。干、濕2 種測(cè)試方法由于分散介質(zhì)不同結構，測(cè)試結(jié)果會(huì)存在差異更適合。目前粒度儀大多數(shù)使用濕法進(jìn)行測(cè)試，但是干法測(cè)試也有其優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快溝通協調，操作簡單要素配置改革，可以測(cè)試在水中溶解的樣品等。涂料粒徑及粒度分布都是采用激光粒度儀進(jìn)行檢測(cè)保障性。更多激光粒度儀詳情廈門易仕特儀器有限公司黃工帶動產業發展。
涂料激光粒度儀
簡介
LAP-DW2000采用的Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測(cè)試方法新創新即將到來，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性邁出了重要的一步。*的濕法循環(huán)分系統(tǒng)，保證顆粒保證測(cè)試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象設施，測(cè)試排水后無廢液積存現(xiàn)象需求，保證了第二次測(cè)試精度，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠組合運用；干法分散采取了直線噴射分散方法更讓我明白了，樣品經(jīng)過高壓氣體分散后垂直向后飛行，避免了待測(cè)顆粒二次團(tuán)簇積極，同時(shí)采取了管道無殘留設(shè)計(jì)探索，保證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性。的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng)產業、干濕一鍵切換系統(tǒng)滿意度、干法電腦遠(yuǎn)端控制喂料系統(tǒng)等精心設(shè)計(jì)彰顯出LAP-DW2000*優(yōu)勢(shì)。
LAP-DW2000涂料激光粒度儀主要性能特點(diǎn)：
的光路設(shè)計(jì)：LAP-DW2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)保證在較短的焦距獲得大量程狀況，有效提高儀器的分辨能力機製性梗阻；*的高密度探測(cè)單元，讓LAP-DW2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力全過程，高密度探測(cè)單元使用LAP-DW2000具有*的全量程無縫測(cè)試能力集成應用。
雙光路設(shè)計(jì)：0.01微米測(cè)量采用了雙光路設(shè)計(jì)探討，測(cè)量范圍為0.01微米到1250微米，輔助激光器采用了藍(lán)光405納米激光器高效流通。（選配）
干調解製度、濕一鍵切換：干濕切換將由儀器自動(dòng)完成，全部過程10s內(nèi)完成功能。
主探測(cè)器Z向自動(dòng)移動(dòng)：干濕切換后因光學(xué)玻璃的介入會(huì)導(dǎo)致會(huì)聚光焦距變化應用的因素之一，LAP-DW2000會(huì)根據(jù)干、濕法的不同自動(dòng)調(diào)整主探測(cè)器預期，使主探測(cè)器始終在焦平面上敢於監督。
大口徑鏡頭：大口徑傅里葉變換鏡頭，更有效實(shí)現(xiàn)光信號(hào)傅里葉變換結構，更準(zhǔn)確重要的作用、更有效。
防干燒超聲：LAP-DW2000實(shí)現(xiàn)了樣品池?zé)o水保護(hù)規模最大，避免損壞超聲力度；同時(shí)超聲功率在0到100瓦范圍內(nèi)可調(diào)節(jié)。
防塵系統性、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)勇探新路，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾傳遞，使結(jié)果測(cè)試更穩(wěn)定可靠試驗。
強(qiáng)防腐設(shè)計(jì)（選配）：根據(jù)耐客戶實(shí)際需求可以配備耐酸、耐堿提供有力支撐、耐油（含一切溶劑油）切實把製度。
進(jìn)口光纖半導(dǎo)體激光器：LAP-DW2000采用了高穩(wěn)定、長壽命的進(jìn)口大功率光纖輸出半導(dǎo)體激光器自行開發，優(yōu)良的單色性及穩(wěn)定性讓LAP-DW2000擁有了*的測(cè)試重復(fù)性。
自動(dòng)對(duì)中：自行研制的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)包括步進(jìn)電機(jī)責任、精密導(dǎo)軌應用情況、精密控制器以及軟件系統(tǒng)組成，較小步距1微米組建，保證激光束焦點(diǎn)始終從探測(cè)器中心點(diǎn)穿過表現，提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性以及測(cè)試的重復(fù)性。自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)是易仕特所有型號(hào)激光粒度儀的標(biāo)準(zhǔn)配置深刻變革。
*微量循環(huán)系統(tǒng)：整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)結論，分散介質(zhì)大于150毫升即可循環(huán)測(cè)試，真正達(dá)到了微量循環(huán)測(cè)試質生產力；所有接頭采用了速插快擰設(shè)計(jì)適應性強，短時(shí)間內(nèi)即可更換全部管道技術交流；優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性拓展。
超寬量程：LAP-DW2000量程干法達(dá)到了0.1μm～2000μm創造更多、濕法0.01μm～2000μm。
免排氣泡設(shè)計(jì)：全新的設(shè)計(jì)使整個(gè)測(cè)試過程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測(cè)試樣品窗不斷進步，避免了氣泡干擾工藝技術。
樣品無殘留設(shè)計(jì)：儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，儀器管道規模、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留近年來，避免對(duì)下一次測(cè)試數(shù)據(jù)的影響；干法測(cè)試同樣進(jìn)行了無殘留設(shè)計(jì)節點。
干法計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制喂料：LAP-DW2000干法測(cè)試時(shí)測(cè)試人員可通過電腦遠(yuǎn)端控制喂料速度通過活化，大大減少了測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。
樣品窗快換裝置：全新設(shè)計(jì)的樣品窗快換裝置支撐作用，使樣品窗更換更方便快捷研學體驗。
軟件：符合藥典GMP規(guī)定，具有電子簽名最為突出、權(quán)限設(shè)置落實落細、數(shù)據(jù)追蹤、數(shù)據(jù)不可更改等功能高效化。
于制藥行業(yè)客戶製高點項目，可以提供3Q認(rèn)證。
主要技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào)：LAP-DW2000
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13320-1:1999範圍和領域；GB/T19077.1-2008
測(cè)試范圍：濕法0.01μm -2000μm 干法0.1μm -2000μm
探測(cè)器通道數(shù)：濕法96 干法86
準(zhǔn)確性誤差：干法：＜1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
濕法：＜1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
重復(fù)性誤差：干法：＜1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
濕法：＜0.5%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
免排氣泡：具備免排氣泡設(shè)計(jì)有所增加，無氣泡干擾數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
誤操作保護(hù)：儀器具備誤操作自我保護(hù)功能，儀器對(duì)誤操作不響應(yīng)
激光器參數(shù)：進(jìn)口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW
鏡頭：進(jìn)口佳能鏡頭
操作模式：干更高要求、濕法軟件一鍵式全自動(dòng)操作
光路校準(zhǔn)：光路自動(dòng)校準(zhǔn)
操作模式：電腦操作
測(cè)試速度：<1min/次（不含樣品分散時(shí)間）
