SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀

SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器可持續。擴展的偏振光學系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析機製。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉(zhuǎn)換全過程，得到的偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應(yīng)用中不需要高吸收輻射的濾光片探討。

SPECTRO XEPOS可廣泛地應(yīng)用于石油不負眾望、化工、冶金調解製度、礦業(yè)精準調控、制藥、食品應用的因素之一、環(huán)保解決、地質(zhì)、建材敢於監督、廢物處理以及再加工工業(yè)等幅度。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS重要的作用，在氦氣保護狀態(tài)下貢獻，在300秒鐘之內(nèi)，對于P穩中求進、S明確了方向、Cl、Ca勇探新路、Cu單產提升、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上試驗。

XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛勞動精神、鎘、（汞）等元素分析製度保障，檢出下限低預下達，靈敏度高自行開發、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對ELV責任、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準等保護好。

產(chǎn)品特點

SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管組建。可裝8個偏振靶和次級靶特點， 可設(shè)定各種不同的激發(fā)條件深刻變革，以確保對從Na到U的元素進行準確測定。

光閘系統(tǒng)可以確保在更換樣品時無需關(guān)閉光管和諧共生，從而提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性質生產力。

SPECTRO XEPOS采用的硅漂移檢測器（SDD）。無論計數(shù)率如何變化技術交流，分辨率均保持一致先進的解決方案。特別設(shè)計的準直器可改善信噪比。光譜分辨率小于160eV（以Mn ka線計）創造更多。計數(shù)率可達到120,000cps宣講活動。在高計數(shù)率下仍有較高的分辨率，可縮短分析時間工藝技術、提高分析準確度效率。

SPECTRO XEPOS的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及的偏振技術(shù)，而且還取決于其進樣設(shè)計近年來。德國斯派克分析儀器公司在開發(fā) SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題講道理。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響技術先進，改善分析結(jié)果落地生根。儀器配備樣品旋轉(zhuǎn)裝置，可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結(jié)果研學體驗。

SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了建設項目、使用簡便的操作界面。選定方法落實落細，輸入樣品識別信息相結合，即可進行測定。通過完備的引導(dǎo)程序製高點項目，操作者只需通過5個簡單步驟即可創(chuàng)建新的分析方法為產業發展。采用基本參數(shù)法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件，可輕而易舉的完成未知樣品的分析有所增加。SPECTRO XEPOS可搭載預(yù)制的應(yīng)用軟件包各項要求。該應(yīng)用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法更高要求。適用于分析ROHS，廢渣新技術，垃圾共同學習，油，水泥深入，爐渣等效高，SPECTRO XEPOS一機多用，是實至名歸的多功能分析儀器基礎。