直讀光譜儀是目前成熟的材料檢測(cè)儀器善謀新篇，具有分析速度快、準(zhǔn)確便利性、檢測(cè)下限低等特點(diǎn)方法。而且可以對(duì)C、P提供有力支撐、S切實把製度、N等非金屬元素的檢測(cè)。因此在金屬材料檢測(cè)領(lǐng)域中具有不可替代的作用自行開發。
引用院士王海舟教授在《直讀光譜儀技術(shù)》一書中寫到：“經(jīng)過(guò)近半個(gè)世紀(jì)的發(fā)展進行部署，火花源原子發(fā)射光譜儀的技術(shù)日臻完善，已從“貴重儀器”蛻化未“常規(guī)儀器”應用情況，成為金屬成分分析主要手段之一保護好，數(shù)以萬(wàn)計(jì)火花源原子發(fā)射光譜儀廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)過(guò)程及產(chǎn)品的質(zhì)量控制”。
全譜直讀光譜儀采用CCD作為檢測(cè)器表現，因?yàn)槭敲鏍顧z測(cè)器特點，所以檢測(cè)可以覆蓋全譜，可根據(jù)需求來(lái)選擇分析譜線結論；特別是可以利用一個(gè)元素有多條特征譜線的原理部署安排，針對(duì)某個(gè)元素選用多個(gè)分析譜線來(lái)做分析；由于使用了全譜技術(shù)技術，能夠?qū)⑷康淖V線接收推廣開來，所以設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，可移動(dòng)且便于使用技術研究，適用于實(shí)驗(yàn)室及現(xiàn)場(chǎng)分析重要的。
全譜直讀光譜儀由于接收了全部的譜線，所以為以后增加元素和基體打下了完善的硬件基礎(chǔ)姿勢∠嗷ト诤?？蛻粢院笠黾釉刎浕w，不需要改動(dòng)硬件綠色化，只需使用標(biāo)準(zhǔn)樣品建立工作曲線即可不同需求，為客戶的以后發(fā)展提供了方便發展。
W5型全譜直讀光譜儀
儀器介紹
金義博-全面打造儀器制造和檢測(cè)一體化基地。為客戶提供優(yōu)質(zhì)的金屬材料檢測(cè)儀器及創(chuàng)新的實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案總之。公司在直讀光譜儀行業(yè)擁有多年的制造和檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)面向，不斷研發(fā)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌的直讀光譜儀。運(yùn)用黑科技及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)推出一款全新的全譜直讀光譜儀OES W5研學體驗。
W5型全譜直讀光譜儀擁可快速的對(duì)金屬材料樣品進(jìn)行元素測(cè)定建設項目。光學(xué)系統(tǒng)采用CMOS檢測(cè)器，光譜范圍覆蓋全部典型材料落實落細。無(wú)論從低含量元素還是到高含量的元素相結合，它都能準(zhǔn)確、可靠的分析製高點項目。公司在行業(yè)內(nèi)擁有光譜多年的生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)積累為產業發展，針對(duì)不同材料、不同要求有所增加，設(shè)計(jì)了這款全新的各項要求、更具性價(jià)比的全譜直讀光譜儀，可滿足金屬制造業(yè)越來越重要的位置、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控新技術、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開(kāi)發(fā)的應(yīng)用結構重塑。
黑科技及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的體現(xiàn)
黑科技一：
性能*的光學(xué)系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵聽得懂，全譜覆蓋，滿足客戶對(duì)全元素檢測(cè)的需求大大縮短。
直射式光學(xué)技術(shù)及采用MgF材料制作的光學(xué)器件要落實好，保證紫外區(qū)域的性能。
高分辯率多COMS讀出系統(tǒng)更默契了，更低的暗電流先進技術，更好的檢出限，更高的穩(wěn)定性不合理波動，更強(qiáng)的靈敏度宣講手段，滿足N的分析要求。
黑科技二：智能數(shù)字激發(fā)光源
全數(shù)字化智能復(fù)合光源DDD技術(shù)積極拓展新的領域，帶來(lái)*分析性能配套設備。
緊湊的設(shè)計(jì)及半導(dǎo)體控制技術(shù)，使得光源具有更好的穩(wěn)定性相對開放、更強(qiáng)的可靠性推進高水平。
高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求生產創效。
黑科技三：智能樣品激發(fā)臺(tái)設(shè)計(jì)
激發(fā)臺(tái)直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)
開(kāi)放式樣品臺(tái)結構，滿足大樣品測(cè)試要求。
變換電極可對(duì)小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品分析有更好的性能
視頻識(shí)別技術(shù)優化上下，確保樣品臺(tái)激發(fā)安全能力建設，可監(jiān)測(cè)樣品臺(tái)的全景。
黑科技四：智能集成氣路模塊
智能氬氣流設(shè)計(jì)及粉塵收集清理裝置
的氬氣噴射技術(shù)生產體系，有效消除激發(fā)過(guò)程中等離子體的飄移服務，確保CCD檢測(cè)器能夠觀測(cè)高溫區(qū)域光信號(hào)，提高精度和穩(wěn)定性參與水平。
激發(fā)后大型，脈沖式氬氣吹掃，提高粉塵去除效果明確相關要求，提升儀器的短期和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
黑科技五：智能真空測(cè)量和控制
真空系統(tǒng)程控統籌發展，在保證真空度的同時(shí)減少真空泵的運(yùn)行時(shí)間深化涉外，
雙級(jí)設(shè)置，在儀器不運(yùn)行的情況下生產製造，開(kāi)啟待機(jī)真空運(yùn)行狀態(tài)開展試點。
多級(jí)真空隔離措施及增加濾油裝置，保障光學(xué)元器件在可靠的環(huán)境中工作是目前主流。
黑科技六：透鏡清理裝置
不銹鋼真空球閥充分發揮，在清理透鏡時(shí)有良好的隔離效果。
單板式透鏡設(shè)計(jì)充分發揮，拆裝方便選擇適用。
交叉機(jī)械裝置，在未解除隔離的情況有效保護(hù)光學(xué)系統(tǒng)設計。
黑科技七：計(jì)算機(jī)及讀出系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)與手機(jī)（或PAD)可同步顯示業務指導，方便面板操作。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)及FPGA就此掀開、DSP和ARM技術(shù)長足發展，進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。
以太網(wǎng)和TCP/IP協(xié)議穩步前行，數(shù)據(jù)傳輸高速結構不合理、可靠。
數(shù)據(jù)可遠(yuǎn)程傳輸逐步改善，全面實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化意見征詢。實(shí)時(shí)方便對(duì)儀器運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測(cè)和控制。
數(shù)據(jù)可進(jìn)行云打印。
黑科技八：專用的光譜分析軟件
國(guó)際光譜儀制作標(biāo)準(zhǔn)的專用光譜儀軟件示範，操作界面人性化應用前景，功能標(biāo)準(zhǔn)化。
儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析方法和的解決方案運行好。
可根據(jù)用戶的材料要求首次，可現(xiàn)場(chǎng)延長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)曲線的測(cè)量上、下限部署安排。
圖片一：CMOS譜峰圖
其它黑科技：
自動(dòng)光路校準(zhǔn)
低氬氣消耗
通用可調(diào)樣品適配器
基體擴(kuò)展功能
標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)修改
控樣修正功能
更安全搖籃、更開(kāi)放的便捷設(shè)計(jì)
結(jié)果實(shí)時(shí)顯示，可為用戶定制打印報(bào)告功能
軟件快速診斷
界面操作簡(jiǎn)單
可靠的工廠校準(zhǔn)功能
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