采用顯微鏡進(jìn)行金相檢驗(yàn)的解決方案
GX53倒置顯微鏡使用范圍非常廣學習,常見(jiàn)于鋼鐵結構重塑、汽車(chē)、電子及其它制造行業(yè)應用優勢。僅僅將打磨后的金屬及截面試樣倒置于顯微鏡鏡臺(tái)上高質量發展,用戶(hù)就可對(duì)試樣進(jìn)行檢驗(yàn)。樣本不需要放平高效節能,也可以觀察較厚影響力範圍、較大、較重樣品新創新即將到來。
GX53給出的清晰圖像邁出了重要的一步,采用傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法則難以捕捉到。與 OLYMPUS 流圖像分析軟件相結(jié)合設施,顯微鏡簡(jiǎn)化了從觀察到圖像分析和報(bào)告的檢驗(yàn)過(guò)程需求。
的分析工具。
GX53顯微鏡的各種觀察性能提供清晰的圖像規模設備,所以用戶(hù)可對(duì)試樣進(jìn)行可靠的缺陷檢測(cè)真諦所在。OLYMPUS圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集選項(xiàng)為用戶(hù)評(píng)估試樣和記錄檢驗(yàn)結(jié)果提供了更多的選擇。
不可見(jiàn)變?yōu)榭梢?jiàn):混合技術(shù)
通過(guò)將暗視野及其它觀察方法如明視野或偏光結(jié)合起來(lái)競爭力,混合技術(shù)可以生成的觀察圖像充分。混合技術(shù)可使用戶(hù)觀察到使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的試樣集聚,甚至展示出試樣表面上的更小高度差競爭力。用于暗視野觀察的圓形 LED 照明器有一個(gè)定向暗視野功能調整推進,可以在給定時(shí)間內(nèi)照明一個(gè)或多個(gè)象限。這就減少了試樣的暈光機製性梗阻,并有助于將其表面紋理可視化機製。
印刷電路板的橫截面

(明視場(chǎng))基片層和通孔不可見(jiàn)。

(暗視場(chǎng))軌跡不可見(jiàn)集成應用。

(明視野+暗視野)所有元件得到清晰展示探討。
輕松創(chuàng)建全景影像:即時(shí)MIA
采用多圖像對(duì)準(zhǔn)(MIA),用戶(hù)可以通過(guò)移動(dòng)手動(dòng)鏡臺(tái)上的 XY 把手來(lái)快速高效流通、簡(jiǎn)單地將圖像拼接到一起—可選電動(dòng)鏡臺(tái)調解製度。 OLYMPUS 圖像分析軟件使用模式識(shí)別來(lái)生成全景影像,適合于滲碳和金屬流動(dòng)情況功能。

t螺栓的金屬流動(dòng)
創(chuàng)建全景對(duì)焦圖像:EFI
OLYMPUS 流軟件的擴(kuò)展聚焦成像(EFI)功能捕獲到圖像的試樣高度超出了聚焦深度應用的因素之一。EFI 將這些圖像疊到一起,創(chuàng)建出試樣的單一全焦圖像生產製造。即使是分析表面不平試樣的橫截面開展試點,EFI 還是可以創(chuàng)建出全聚焦圖像。EFI 與手動(dòng)或電動(dòng) Z 軸相配合共同,創(chuàng)建出一副高度圖推進一步,從而輕松地對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察。

樹(shù)脂零件
使用 HDR 捕獲亮區(qū)和暗區(qū)
使用的圖像處理強大的功能,高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)調(diào)節(jié)圖像內(nèi)的亮度差異以減少炫光實際需求。它還有助于提高低對(duì)比度圖像中的對(duì)比度。HDR 可用于觀察電氣設(shè)備中的顯微構(gòu)造及分辨金屬晶界優勢。
金板

一些區(qū)域有炫光善謀新篇。

暗區(qū)和亮區(qū)均可以通過(guò)使用HDR得到清晰曝光。
OLYMPUS 流軟件——針對(duì)材料科學(xué)進(jìn)行優(yōu)化便利性。
材料檢驗(yàn)方法、測(cè)量和分析需要滿(mǎn)足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以及內(nèi)部操作程序。同時(shí)提供有力支撐,GX53顯微鏡和OLYMPUS圖像分析軟件支持符合不同行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的金相分析切實把製度。隨著循序漸進(jìn)的操作員指導(dǎo),用戶(hù)可以快速自行開發、簡(jiǎn)便地對(duì)試樣進(jìn)行分析進行部署。
顆粒分析——計(jì)數(shù)和測(cè)量解決方案
檢驗(yàn)物體和測(cè)量粒度分析屬于數(shù)字成像中的最重要應(yīng)用。 OLYMPUS 流軟件的技術(shù)和測(cè)量解決方案使用閾值法可靠地從背景中分離對(duì)象應用情況,例如顆粒和劃痕保護好。超過(guò) 50 種不同的物體測(cè)量和分類(lèi)參數(shù)可用,包括形狀表現、尺寸特點、位置和像素屬性深刻變革。

蝕刻鋼顯微結(jié)構(gòu)(原圖像)

可對(duì)晶界進(jìn)行清晰探測(cè)

晶粒分類(lèi)結(jié)果
顯微結(jié)構(gòu)下的晶粒尺寸

用戶(hù)可以測(cè)量晶粒尺寸并分析鋁、鐵素體和諧共生、奧氏體等鋼晶粒結(jié)構(gòu)以及其它金屬等顯微結(jié)構(gòu)質生產力。
支持標(biāo)準(zhǔn):ISO、GOST技術交流、ASTM先進的解決方案、DIN、JIS重要的、GB/T
評(píng)估石墨結(jié)核狀態(tài)

軟件可用于評(píng)估石墨結(jié)核狀態(tài)及鑄鐵試樣含量(結(jié)核狀和蠕蟲(chóng)狀)開展研究∽藙??蓪?duì)石墨節(jié)點(diǎn)的形態(tài)相互融合、分布和尺寸進(jìn)行分類(lèi)。
支持標(biāo)準(zhǔn):ISO綠色化、NF不同需求、ASTM、KS保持穩定、JIS總之、GB/T
對(duì)高純度鋼中的非金屬雜質(zhì)進(jìn)行評(píng)級(jí)

使用在試樣上最差區(qū)域捕獲的圖像或手動(dòng)定位處的雜質(zhì)對(duì)非金屬雜質(zhì)進(jìn)行分類(lèi)。
支持標(biāo)準(zhǔn):ISO支撐作用、EN研學體驗、ASTM、DIN最為突出、JIS落實落細、GB/T、UNI
人體工學(xué)設(shè)計(jì)
顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計(jì)使得用戶(hù)的工作體驗(yàn)更加舒適統籌發展,以進(jìn)行更有效的檢查深化涉外。當(dāng)與OLYMPUS圖像處理軟件配合使用時(shí),操作員可以輕松獲取不同試樣的圖像生產製造,進(jìn)行各種分析開展試點,并生成專(zhuān)業(yè)報(bào)告。
豐富配件選擇
濾光片將試樣曝光光線(xiàn)轉(zhuǎn)化為各種類(lèi)型的照明共同。根據(jù)您的觀察需求選擇合適的濾光片推進一步。
輸出接口
專(zhuān)業(yè)接口用于連接顯微CCD。根據(jù)視場(chǎng)和放大率選擇接口簡單化。實(shí)際觀察范圍可通過(guò)以下公式來(lái)計(jì)算:實(shí)際視場(chǎng)(對(duì)角線(xiàn)mm)——視場(chǎng)(觀察直徑)/物鏡放大率力度。