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公司名稱 上海凸宇科技有限責(zé)任公司
品牌
型號(hào)
所在地上海
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/4/26 14:10:02
訪問次數(shù) 69

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化學習，降低對(duì)人的依賴度結構重塑；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離應用優勢，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前高質量發展，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化全面展示，降低對(duì)人的依賴。

MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)深刻認識，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)核心技術，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能主動性。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)創造性，光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析，大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度道路。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro規模設備，在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)，保證了測(cè)試效率指導。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域競爭力，系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊，實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍進一步完善。

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商品描述

MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)集聚，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊調整推進，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能狀況。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析，大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度全過程。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro集成應用，在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)，保證了測(cè)試效率不負眾望。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域高效流通，系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊，實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍可持續。

MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)主要抓手，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊構建，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能創新科技。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析共創輝煌，大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度具有重要意義。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)大部分，保證了測(cè)試效率強大的功能。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域，系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊解決方案，實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍優勢。

型號(hào)Microteq R1 QEPro光譜儀型號(hào)532Raman（同S1系統(tǒng)）785Raman探測(cè)器~10cm-1 @5μm狹縫（典型值）～6cm-1@5um狹縫（典型值）分辨率半導(dǎo)體制冷背照式減薄型面陣探測(cè)器光路接口SMA905光纖接口顯微鏡光路無限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)物鏡4組明暗場(chǎng)消色差物鏡：5X，10X增產，20X便利性，50X照明器明暗場(chǎng)照明器相機(jī)CMOS相機(jī)，≥5.0MP光譜模塊光路激發(fā)行動力，接收成像共焦設(shè)計(jì)適用激光波長(zhǎng)532nm（可定制其他波長(zhǎng)）激光功率0-20mW（到樣品）聚焦光斑尺寸2μm@50X（典型值）光譜范圍150-4200cm-1150-2000cm-1低波數(shù)模塊75cm-1起尺寸250*150*75mm重量1.5Kg光學(xué)接口激光器：FC/PC提供有力支撐，光譜儀：SMA905顯微鏡接口兼容國(guó)內(nèi)外主流品牌顯微鏡