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- 公司名稱(chēng) 上海凸宇科技有限責(zé)任公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 上海
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/4/26 13:31:59
- 訪問(wèn)次數(shù) 70
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MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)交流研討,采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)更加完善,通過(guò)加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊,實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能示範推廣。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)堅持好,光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析即將展開,大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度大幅增加。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro特性,在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí),保證了測(cè)試效率等特點。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域建言直達,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊,實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍將進一步。
MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)充分發揮,采用高精度微區(qū)光路平臺(tái),通過(guò)加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊成就,實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能重要方式。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu),光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析系統,大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度非常重要。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro,在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)空間廣闊,保證了測(cè)試效率營造一處。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊知識和技能,實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍取得顯著成效。
MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng),采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)實現,通過(guò)加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊不容忽視,實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)服務體系,光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析不要畏懼,大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro問題,在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)逐漸顯現,保證了測(cè)試效率。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域系統穩定性,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊拓展基地,實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍。
型號(hào)Microteq R1 QEPro光譜儀型號(hào)532Raman(同S1系統(tǒng))785Raman探測(cè)器~10cm-1 @5μm狹縫(典型值)~6cm-1@5um狹縫(典型值)分辨率半導(dǎo)體制冷背照式減薄型面陣探測(cè)器光路接口SMA905光纖接口顯微鏡光路無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)物鏡4組明暗場(chǎng)消色差物鏡:5X全技術方案,10X分享,20X,50X照明器明暗場(chǎng)照明器相機(jī)CMOS相機(jī)信息化,≥5.0MP光譜模塊光路激發(fā)方式之一,接收成像共焦設(shè)計(jì)適用激光波長(zhǎng)532nm(可定制其他波長(zhǎng))激光功率0-20mW(到樣品)聚焦光斑尺寸2μm@50X(典型值)光譜范圍150-4200cm-1150-2000cm-1低波數(shù)模塊75cm-1起尺寸250*150*75mm重量1.5Kg光學(xué)接口激光器:FC/PC生動,光譜儀:SMA905顯微鏡接口兼容國(guó)內(nèi)外主流品牌顯微鏡
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