產(chǎn)品簡(jiǎn)介WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合相互配合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡方案、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合關鍵技術，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡深入、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成技術研究。該系統(tǒng)通過(guò)專(zhuān)用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦，通過(guò)專(zhuān)用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析開展研究，具有直觀姿勢、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)首要任務【G色化？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果發展。適用于磨料拓展、涂料、非金屬礦宣講活動、化學(xué)試劑、粉塵工藝技術、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量效率、形貌觀察和分析。

測(cè)量范圍：1～3000微米

光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍

分辨率：0.1微米/像素

準(zhǔn)確性誤差：<>

重復(fù)性偏差：<>

數(shù)據(jù)輸出：周長(zhǎng)分布近年來、面積分布講道理、長(zhǎng)徑分布、短徑分布技術先進、周長(zhǎng)相當(dāng)徑分布更多的合作機會、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布認為、長(zhǎng)短徑比服務好、中間（D50）、有效粒徑（D10）反應能力、限定粒徑（D60共謀發展、D30、D97）、個(gè)數(shù)長(zhǎng)度平均徑聽得懂、個(gè)數(shù)面積平均徑應用優勢、個(gè)數(shù)體積平均徑、長(zhǎng)度面積平均徑要落實好、長(zhǎng)度體積平均徑緊密相關、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)先進技術、曲率系數(shù)培訓。

配置參數(shù)（配置1國(guó)產(chǎn)顯微鏡）（配置2進(jìn)口顯微鏡）

三目生物顯微鏡:平場(chǎng)目鏡：10×、16×

消色差物鏡：4×深入、10×效高、40×、100× （油）

總放大倍數(shù)：40×-1600×

攝像機(jī)：300萬(wàn)像素?cái)?shù)字CCD（標(biāo)準(zhǔn)C接頭）