產(chǎn)品類型： 能量色散X熒光光譜分析設備
產(chǎn)品名稱： 鍍層厚度分析儀
型 號： iEDX-150T （可同時具備鍍液/RoHS/成分分析功能）

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢
1.鍍層檢測，檢測層數(shù)范圍1-6層占；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%高質量。
2.全自動操作平臺，平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z)激發創作；
3.激光定位和自動多點測量功能前景；
4.檢測的樣品可以為固體、液體或粉末增幅最大；
5.運行及維護成本低共享應用、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低標準；
6.可進行未知標樣掃描示範推廣、無標樣定性、半定量分析即將展開；
7.操作簡單大幅增加、精準無損、高品質傳承、高性能等特點、高穩(wěn)定性，快速檢測（5-40秒）形式；
8.配置：SDD探測器建設應用、牛津X射線管、SPELLMAN高壓電源日漸深入，儀器使用壽命長動力。
9.超高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高同時，檢測越精準，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）效高性；
10.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件模式；
11.軟件升級；
12.無損檢測提升，一次性購買標樣可使用高品質；
13.使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內意料之外，提供保姆式服務文化價值；
14.環(huán)保RoHS分析功能，實現(xiàn)鍍層置之不顧、環(huán)保和成份分析同時檢測不斷完善；
15.具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下方便，可遠程進行儀器維護基礎上；
16.RoHS規(guī)定的元素測試，待測物質的Cd/Cr/Pb/Hg元素應用領域，鹵素要求的Cl/Br元素保持競爭優勢，八大有害重金屬：鉛：Pb、汞：Hg發展機遇、鎘：Cd長效機製、銻：Sb、硒：Se服務體系、砷：As說服力、鋇：Ba、鉻：Cr分析。

（二）產(chǎn)品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉換器）
3.Multi Ray. 運用基本參數(shù)法（FP）軟件表示，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析非常激烈。
4.MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5.Multi-Ray. 快速競爭力所在、簡單的定性分析的軟件模塊☆I域？赏瑫r分析20種元素溝通機製。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給註入新的動力。
Multi-Ray 金屬行業(yè)精確定量分析軟件領先水平。可同時分析8種元素雙重提升。最小二乘法計算峰值反卷積戰略布局。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析事關全面。金屬分析精度可達±0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析狀態。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定等形式。含全元素、內部元素研究與應用、矩陣校正模塊飛躍。
6.Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)
7.完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差全面協議、 低/高讀數(shù)重要部署，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺工具，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析的過程中。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"廣泛關註。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能發力、方便加載函數(shù)優勢領先、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能共創美好。
（三）軟件界面：鍍層軟件分析圖譜界面