儀器簡介：陰極射線發(fā)光光譜儀配合客戶掃描電鏡SEM，可以獲得高空間分辨率和光譜分辨率的樣品表面形貌信息相對較高，無論是從大塊樣品到納米結(jié)構(gòu)樣品資源配置，CL都是作為無損材料表征力的技術(shù)之一

儀器簡介：

陰極射線發(fā)光光譜儀配合客戶掃描電鏡SEM，可以獲得高空間分辨率和光譜分辨率的樣品表面形貌信息相關，無論是從大塊樣品到納米結(jié)構(gòu)樣品大力發展，CL都是作為無損材料表征力的技術(shù)之一。

HORIBA陰極射線發(fā)光光譜儀基于反射光路模塊化設(shè)計(jì)生產效率，在諸多應(yīng)用中都能提供的信號(hào)探測(cè)靈敏度產能提升，無需特別制備樣品，在使用電鏡掃描的同時(shí)保持穩定，可以實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)分析總之。

特點(diǎn)：

· 模塊化設(shè)計(jì)可以直接在電鏡上加裝陰極射線發(fā)光光譜儀

· 針對(duì)不同測(cè)試要求，提供相應(yīng)輔助附件

· 反射光路設(shè)計(jì)使得信號(hào)收集可以達(dá)到支撐作用，減少信號(hào)衰減

· CCD掃描使用SWIFT模式可以10倍速度得到mapping數(shù)據(jù)

· 全部實(shí)現(xiàn)軟件控制操作

技術(shù)參數(shù)：