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45MG超聲測厚儀

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45MG超聲測厚儀:操作簡便相對較高、堅固耐用資源配置、性能可靠 45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項超聲測厚儀信息。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器大力發展,可用于幾

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45MG超聲測厚儀:

操作簡便豐富內涵、堅固耐用、性能可靠

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   45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項超聲測厚儀產能提升。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容適應性,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測厚應用通過活化。

 標準功能

   45MG儀器在使用基本配置時落地生根,是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀研學體驗,操作人員經(jīng)過基本的培訓建設項目,就可完成常用的測厚應用。不過落實落細,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后自動化,就會變成一款極為測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應用高品質。此外不折不扣,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買資源優勢。

 

與所有Olympus雙晶探頭兼容高效利用,可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量

?  小值/大值模式

?  兩個報警模式

?  差值模式

?  時基B掃描

?  縮減率

?  增益調(diào)整(標準、高估算、低)

?  密碼式儀器鎖定

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 帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

 

抵御惡劣環(huán)境的能力

?  堅固耐用講理論,設計符合IP67標準。

?  爆炸性氣氛:可在國家防火協(xié)會規(guī)范(NFPA 70500節(jié)I2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作不要畏懼,并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試服務為一體。

?  防撞擊測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試,每軸6個循環(huán)逐漸顯現,15 g全會精神,11 msec半弦波。

?  防振動測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C6中的測試拓展基地,一般暴露:每軸1小時集中展示。

?  寬泛的操作溫度范圍

?  可選的帶有支架的橡膠保護套

 簡便操作的設計理念

?  可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)

?  可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面

?  使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式

?  USB通訊端口

?  可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器

?  默認或自定義單晶探頭設置(可選)

?  密碼保護方式的儀器鎖定

?  彩色透反QVGA顯示,帶有室內(nèi)和室外顏色設置體系流動性,具有清晰度

 可選功能

   只需幾次按鍵探索創新,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業(yè)領域中用途廣泛的測厚儀行列配套設備。

   回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項更優質,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略推進高水平。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度脫穎而出,這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此生產創效,在進行厚度測量時結構,無需去掉材料表面的漆層或涂層。

   單晶: 這個選項可對很多材料優化上下,如:金屬能力建設、塑料、復合材料事關全面、玻璃及陶瓷表現明顯更佳,進行非常厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容技術節能。

   單晶高穿透:這個選項可對較厚或衰減性較高的材料指導,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進行厚度測量國際要求×鲃有??膳c范圍在0.5 MHz30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項競爭激烈。

   數(shù)據(jù)記錄器:45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器持續創新,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于WindowsGageView接口程序空白區。

   帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描: 用戶使用這個可選實時A掃描模式協調機製,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數(shù)形勢,對增益和空白設置進行手動調(diào)整高質量,以在具有挑戰(zhàn)性的應用中大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整選擇適用、擴展空白、個回波空白設計、范圍及延遲參數(shù)業務指導。

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室內(nèi)顯示設置,可選A掃描模式

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室外顯示設置就此掀開,可選A掃描模式

 

 

使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量

  45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道長足發展、管件、箱體穩步前行、壓力容器結構不合理、船體外殼及其它結構的剩余厚度動手能力。這些應用中常使用的是雙晶探頭。

?  用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能

?  當校準過程中出現(xiàn)雙回波時意見征詢,會發(fā)出雙回波警告

?  回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面

?  高溫測量:溫度可高達500 °C]

B掃描成像(基于時間)

   45MG儀器提供的B掃描功能提升,可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時的必然要求,這個標準功能非常有用研究成果。探頭一接觸到材料表面,就會激活B掃描應用擴展。凍結小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值體驗區。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)活動上。

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室內(nèi)顯示設置有望,B掃描模式

 回波到回波/穿透涂層選項

 回波到回波

 測厚儀使用多個底面回波,顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度:

?  自動回波到回波

?  手動回波到回波(僅出現(xiàn)于A掃描選項)導向作用,可進行以下操作:

1方案、 增益調(diào)整

2、 擴展空白

3堅持好、 回波空白

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顯示A掃描的自動回波到回波模式

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調(diào)整個回波空白的手動回波到回波模式

 

 

高溫表面

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   45MG測厚儀配上D932系列探頭(D790即將展開、D790-SMD790-RLD790-SL)特性,是測量高溫材料(溫度高達500 oC)的理想選擇傳承,并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能建言直達,通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化多種,提高了在高溫表面上進行測量的精確性。

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 穿透涂層技術

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    使用單個底面回波測量金屬的實際厚度充分發揮。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度發展成就。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此重要方式,要得到金屬的厚度開展面對面,無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM非常重要、D7906-RMD7908雙晶探頭進一步提升。

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顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被激活)

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顯示可選波形的穿透涂層模式

 

使用單晶探頭對工件進行精確測量

   對塑料、金屬營造一處、復合材料改革創新、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

   使用單晶探頭

 用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料新模式、復合材料實現、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度組織了。我們提供各種頻率可以使用、直徑和連接器類型的單晶探頭深入各系統。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用進一步意見,則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。

?  在使用頻率范圍為2.25 MHz30 MHz的單晶探頭時實施體系,單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米(0.0001英寸)的測量值進行培訓。

?  高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維發展機遇、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

?  測量厚度法治力量、聲速或渡越時間全技術方案。

?  自動調(diào)用默認設置和自定義設置用于當前應用的功能簡化了厚度測量操作。

 單晶軟件選項

    用戶使用單晶軟件選項共享,可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為厚度測量信息化。這個選項可與范圍在2.25 MHz30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

?  大多數(shù)薄材料和厚材料

?  壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶生動、管件新型儲能、管道及薄片材料

?  壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼圈板新品技、機加工部件

?  汽缸孔範圍、渦輪葉片

?  玻璃燈泡、瓶子

?  薄壁玻璃纖維紮實做、橡膠空間廣闊、陶瓷及復合材料

?  曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

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高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性的材料進行測量。

 應用設置調(diào)用

     應用設置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作提供深度撮合服務。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后服務品質,45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關的參數(shù)。

 存儲的標準設置

     45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設置組成部分,可用于常用的測量操作影響。這些默認探頭設置可用于各種各樣的厚度測量應用。

 存儲的自定義設置

     45MG還可存儲多35個自定義單晶探頭的設置的過程中,其中還包括校準信息發展契機。用戶可以連接適當?shù)奶筋^,并調(diào)用設置文件國際要求,然后儀器便可進行厚度測量,甚至還可完成復雜的測厚應用。

 材料聲速測量

     45MG儀器可以測量材料的聲速競爭激烈。在材料聲速與其它屬性密切相關的應用中具體而言,這個標準功能非常有用。典型的應用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度智慧與合力,以及監(jiān)控復合材料/玻璃纖維的密度變化喜愛。

 縮減率測量

     差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實際厚度與預先設定的厚度值之間的差異開放要求∠蚝脩B勢?s減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應用服務機製。

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使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料貢獻力量。

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使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進行測量。

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測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況大幅拓展。

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可測量包括塑料發行速度、金屬、橡膠與時俱進、玻璃性能、陶瓷及復合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。

 

單晶高穿透軟件選項

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   用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下綜合運用,測量橡膠供給、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料實事求是。 這個選項包含單晶選項進行探討。

?  大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料

?  厚鑄造金屬部件

?  厚橡膠輪胎、履帶

?  玻璃纖維船體等多個領域、儲存罐

?  復合材料板

?  對于頻率范圍為0.5 MH1.0 MHz的探頭再獲,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)

 

 

 

產(chǎn)品規(guī)格

測量

雙晶探頭測量模式

從激勵脈沖后的精確延遲到個回波之間的時間間隔。

自動回波到回波(可選)

在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔應用擴展,不計漆層或涂層的厚度體驗區。

穿透涂層測量 (可選)

利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SMD7906探頭)

單晶探頭測量模式(可選)

模式1:激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔活動上。

模式2:延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)

模式3:在激勵脈沖之后有望,位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。

厚度范圍

0.080 mm635 mm0.003 in.25.0 in.)視材料導向作用、探頭方案、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量全的范圍需要使用單晶選項)

材料聲速范圍

0.508 mm/μs18.699 mm/μs0.020 in./μs0.7362 in./μs

分辨率(可選擇)

低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)

標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸)

單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸)

探頭頻率范圍

標準:2.25 MHz30 MHz-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz30 MHz-3 dB

一般規(guī)格

操作溫度范圍

-10 °C50 °C14 °F122 °F

鍵盤

密封真正做到、以色彩區(qū)分功能的鍵盤科普活動,帶有觸感及聲音反饋

機殼

防撞擊創新延展、防水、裝有密封墊的機殼長期間,機殼上的接口密封基本情況。設計符合IP67標準。

外型尺寸(寬 x  x 厚)

總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm

重量

430.9

電源

3節(jié)AA電池/USB電源供應

電池工作時間

3節(jié)AA堿性電池:2021小時

3節(jié)AA鎳氫電池:2223小時

3節(jié)AA鋰離子電池:3536小時

標準

設計符合EN15317標準

顯示

彩色透反QVGA顯示

液晶顯示高端化,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米

檢波

全波力量、RF波、正半波提單產、負半波(波形選項)

輸入/輸出

USB

2.0從接口

存儲卡

容量:2 GB可插拔MicroSD存儲卡

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選)

數(shù)據(jù)記錄器

45MG通過USBMicroSD卡識別深入實施、存儲、調(diào)用發展空間、清除及傳輸厚度讀數(shù)效果、波形圖像和儀器配置信息。

容量

475000個厚度測量讀數(shù)連日來,或20000個帶厚度值的波形

文件名稱和ID編碼

32位字符的文件名快速融入,20位字符的字母數(shù)字位碼

文件結構

6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構

報告

機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和小值/大值

 

 



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