JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
的性能道路，讓您盡享輕松自如！
支持廣泛研究領(lǐng)域的*分析工具
新研發(fā)的super hybrid 物鏡真諦所在，能獲取0.8nm （15kV） 和1.2nm （1kV） 的超高分辨率指導，采用了Gentle Beam 的高性能電子光學(xué)系統(tǒng)，能夠顯示試樣表面的微細(xì)結(jié)構(gòu)充分，可以在數(shù)百伏的低加速電壓下觀察材料的成分分布進一步完善。
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡快速、高精度的分析
利用日本電子技術(shù) “光闌角度*調(diào)節(jié)透鏡” （Aperture Angle Optimizing Lens）競爭力，即使增大電流調整推進，也能夠保持很小的電子探針直徑。使用大束流機製性梗阻，在不犧牲元素分析的高精度和高質(zhì)量的同時(shí)機製，保證了分析的高速度全過程。還可以使用EDS、WDS探討、EBSD 等多種分析附件大型。能夠獲取無畸變的EBSD 花樣，因而可以進(jìn)行高精度的晶體取向分析明確相關要求。
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡高穩(wěn)定的電子探針能獲取zui可靠性的數(shù)據(jù)
使用浸沒式熱場發(fā)射電子槍重要意義，能獲取長時(shí)間穩(wěn)定的電子探針，無論何時(shí)都能實(shí)現(xiàn)高性能深化涉外，無需等待探針電流的穩(wěn)定構建。
多個(gè)用戶獲得的數(shù)據(jù)或者不同時(shí)間獲得的數(shù)據(jù)，都能很容易地進(jìn)行比較服務延伸。
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡不受試樣限制
super hybrid 物鏡采用不漏磁設(shè)計(jì)共創輝煌，在分析工作距離上沒有磁場。
對磁性材料能在高倍率下進(jìn)行觀察與分析進一步。
對非導(dǎo)電性試樣的觀察也變得更加便捷大部分。
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡走近納米世界
新開發(fā)的super hybrid 物鏡，將研究者與納米世界的距離拉得更近實際需求。利用這種物鏡解決方案，即使在極低入射電子能量下，也能獲得很高的分辨率善謀新篇，這是觀察試樣表面納米結(jié)構(gòu)所*的增產。
即使是磁性材料，利用super hybrid 物鏡方法，也能進(jìn)行高倍率的觀察與分析行動力。
| Fe3O4 納米粒子集合體利用super hybrid 物鏡對磁性材料進(jìn)行高倍率觀察 | |
| 資料提供：日本東北大學(xué) 原子分子材料科學(xué)高等研究所
阿尻研究室
富樫貴成博士、阿尻雅文教授 |
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡檢測器
通過四種※檢測器切實把製度，能夠有選擇地檢測試樣中電子的能量保供。
（※包括選配件檢測器）
JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡超高分辨率
