| 參考價 | 面議 |
產(chǎn)品介紹：HF5000是日立的200kV球差校正場發(fā)射透射電鏡逐漸完善，采用冷場發(fā)射電子槍和全自動化的球差校正技術參與能力，在保證超高分辨率的同時大大簡化操作，實現(xiàn)高分辨觀察與易用性的結合是目前主流。HF5000同樣
主要特點：
日立研發(fā)的全自動STEM球差校正器
高穩(wěn)定充分發揮、高亮度的冷場發(fā)射電子槍
TEM、STEM充分發揮、SEM三位一體
大面積選擇適用、大固體角的無窗能譜儀
全新設計的鏡筒和高壓系統(tǒng)
全新設計的保護罩和熒光屏相機
高穩(wěn)定性側插樣品桿
兼容日立的特殊樣品桿和FIB系統(tǒng) 項目 主要參數(shù) 電子槍 冷場發(fā)射電子槍 加速電壓 60-200kV TEM點分辨率 0.23nm HAADF-STEM分辨率 0.078nm 能譜 無窗SDD能譜，2 x 100mm2設計，固體角2.0 Sr 電子能量損失譜 Gatan GIF Quantum or Enfinium spectrometer 圖像模式 TEM明場像業務指導、BF-STEM明場像、ABF-STEM環(huán)形暗場像就此掀開、HAADF-STEM高角度環(huán)形暗場像長足發展、二次電子像、電子衍射花樣穩步前行、特征X射線像（可選）結構不合理、EELS像（可選）
應用領域：
HF5000作為一款球差校正冷場發(fā)射透射電鏡動手能力，其分辨率達到了亞埃級，可以實現(xiàn)對樣品的超細微觀結構的觀察和分析意見征詢，適用于金屬提升、陶瓷、半導體等多個領域、納米材料等的觀察再獲。同時，HF5000的TEM應用擴展、STEM體驗區、SEM三位一體功能不僅可以實現(xiàn)對材料內(nèi)部結構的研究，也可以獲得材料表面的信息進一步意見。原子級分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷增幅最大，同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率，可以滿足樣品表面高分辨形貌和結構觀察的需求生產能力，與TEM和STEM形成互補標準。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度，提高了觀察效率堅持好，尤其適合測試平臺和科研中心等用戶即將展開。
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產(chǎn)品的資料：
個人信息：
