性能完成的事情、穩(wěn)定性和控制統籌，提供超低噪音水平、極快的反饋控制和專有的 Q 控制軟件協同控製，用于主動抑制振動振奮起來。多功能原位力學(xué)測試平臺，支持各種幾何尺寸樣品的的力學(xué)測試模式重要作用、多種控制模式和可更換壓頭.緊湊設(shè)計等地，為小腔室掃描電鏡最為顯著、拉曼和光學(xué)顯微鏡尤為突出、光束線等提供易于安裝的理想系統(tǒng)。

布魯克的SEM PicoIndenter系列是深度感應(yīng)的納米力學(xué)測試系統(tǒng)環境，專門設(shè)計用于與掃描電子顯微鏡（SEM空間載體、FIB/SEM）的上等成像能力聯(lián)用。有了這些系統(tǒng)相對簡便，可以進行定量納米力學(xué)測試重要組成部分，同時使用SEM進行成像。Hysitron PI 85L SEM PicoIndenter 是一款專用的原位納米力學(xué)測試儀器合作，專為 SEM 使用而設(shè)計勃勃生機，但也適用于各種平臺和環(huán)境。該儀器采用布魯克電容式傳感器與極快的 78 kHz 控制系統(tǒng)配合使用極致用戶體驗，在納米尺度下提供**的性能和穩(wěn)定性提供有力支撐。緊湊的小尺寸設(shè)計使該系統(tǒng)非常適合腔體應用、拉曼和光學(xué)顯微鏡、同步輻射光束線等品率。

專為高性能和多功能性而設(shè)計

Hysitron PI 85L 的樣品臺設(shè)計能容納厚度達 10 mm 的樣品相貫通，同時提供三個方向 （XYZ） 3 mm 范圍的**樣品定位。此外積極影響，樣品和傳感器的機械耦合為納米力學(xué)測試提供了一個穩(wěn)定自動化方案、剛性的平臺≡絹碓街匾?？傊€上線下，這種設(shè)計可實現(xiàn)*大的傾斜度和*小工作距離，在測試期間實現(xiàn)*佳成像效果醒悟。

與 SEM 成像同步的原位力學(xué)數(shù)據(jù)

使用 Hysitron PI 85L 采集的原位力學(xué)數(shù)據(jù)與 SEM 成像同步過程中，且并排顯示。在左側(cè)的示例中性能穩定，負載位移數(shù)據(jù)中的不連續(xù)性與在包含銅互連和脆電介質(zhì)材料中觀察到的斷裂相關(guān)全面革新。同時進行機械測量和SEM成像可**了解材料變形行為。

**使用各種模式探索材料變形行為

Hysitron PI 85L 可采用多種不同模式情況正常，在各種不同樣品中測試基本力學(xué)性能行業分類、應(yīng)力應(yīng)變行為、剛度提高鍛煉、斷裂韌性和變形機制發展邏輯。

除了標準的測試模式外，PI 85L 還可以升級有所提升，并可使用可選模式進一步擴展其功能聽得進。從加熱選項到電特性，PI 85L 可根據(jù)您的需求進行調(diào)整先進水平。